[发明专利]光学拾取装置无效
申请号: | 96103232.4 | 申请日: | 1996-02-15 |
公开(公告)号: | CN1088886C | 公开(公告)日: | 2002-08-07 |
发明(设计)人: | 前田史贞;市村功;山本健二;大里洁;渡边俊夫 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G11B7/135 | 分类号: | G11B7/135;G02B7/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,萧掬昌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 拾取 装置 | ||
本发明涉及光学拾取装置,用于把来自光源的光会聚到光学记录介质(例如光盘)的信号记录表面。
最近,计算机的记录装置等介质包或音乐、图象信息的介质包的最新趋势是趋于高信息记录密度。在高记录密度的方法中,有一种方法是增加物镜的数值孔径以减小会聚在盘上的光点的直径。
假设,用高记录密度记录的信息信号是凹坑,要用光学拾取装置再生,如减小了光点直径,就可以再生小尺寸的记录标记,因此,达到了高记录密度。
如果增加物镜的数值孔径,则会给物镜本身的制造造成困难。
如果光盘基底与会聚光倾斜,就会产生慧差,如果物镜的数值孔径NA增加,慧差就增加。例如三级慧差W31和五级慧差W51可用方程式(1)和(2)表示:
其中,t是盘的厚度,N是盘的折射率,NA是物镜的数值孔径,θ是光盘的偏斜。
可以看到,慧差是和数值孔径NA的大小一致的。就是说,如果物镜的数值孔径增加,则光盘平面性(光盘和盘的安装表面的正交性,以及光拾取装置的进给精度)的容差值减小。
例如,如果光学基底的厚度是1.2mm其折射率为1.52,来自光源的波长是532nm,在只采用0.05λ物镜的情况下,由于盘的偏斜产生RMS波前象差的容差值,偏斜容差值随物镜的数值孔径的增加而减小,如图8所示。因此,需要增加纠正偏斜的偏斜矫正机构,导致增加成本和增大尺寸的缺点。
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