[发明专利]光学拾取装置无效

专利信息
申请号: 96103232.4 申请日: 1996-02-15
公开(公告)号: CN1088886C 公开(公告)日: 2002-08-07
发明(设计)人: 前田史贞;市村功;山本健二;大里洁;渡边俊夫 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G02B7/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,萧掬昌
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 拾取 装置
【说明书】:

发明涉及光学拾取装置,用于把来自光源的光会聚到光学记录介质(例如光盘)的信号记录表面。

最近,计算机的记录装置等介质包或音乐、图象信息的介质包的最新趋势是趋于高信息记录密度。在高记录密度的方法中,有一种方法是增加物镜的数值孔径以减小会聚在盘上的光点的直径。

假设,用高记录密度记录的信息信号是凹坑,要用光学拾取装置再生,如减小了光点直径,就可以再生小尺寸的记录标记,因此,达到了高记录密度。

如果增加物镜的数值孔径,则会给物镜本身的制造造成困难。

如果光盘基底与会聚光倾斜,就会产生慧差,如果物镜的数值孔径NA增加,慧差就增加。例如三级慧差W31和五级慧差W51可用方程式(1)和(2)表示: W 31 = t 2 · N 2 - 1 N 3 θ · NA 3 . . . . . . . . ( 1 ) ]]> W 51 = t 8 · ( N 2 - 1 ) ( N 2 + 3 ) N 5 θ · NA 5 . . . . . ( 2 ) ]]>

其中,t是盘的厚度,N是盘的折射率,NA是物镜的数值孔径,θ是光盘的偏斜。

可以看到,慧差是和数值孔径NA的大小一致的。就是说,如果物镜的数值孔径增加,则光盘平面性(光盘和盘的安装表面的正交性,以及光拾取装置的进给精度)的容差值减小。

例如,如果光学基底的厚度是1.2mm其折射率为1.52,来自光源的波长是532nm,在只采用0.05λ物镜的情况下,由于盘的偏斜产生RMS波前象差的容差值,偏斜容差值随物镜的数值孔径的增加而减小,如图8所示。因此,需要增加纠正偏斜的偏斜矫正机构,导致增加成本和增大尺寸的缺点。

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