[发明专利]光学传感器和光记录介质重现装置无效
申请号: | 96105787.4 | 申请日: | 1996-03-04 |
公开(公告)号: | CN1084879C | 公开(公告)日: | 2002-05-15 |
发明(设计)人: | 丰田清;齐藤公博;西纪彰;玉田仁志;松本秀一 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G02B5/30 | 分类号: | G02B5/30;G11B7/135 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王忠忠,张志醒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 传感器 记录 介质 重现 装置 | ||
1.一种光学传感器,它包括:
一个发射光束的激光源;
一个物镜,用于把从激光源发出的光聚焦到光记录介质的数据记录表面上;
光接收装置,用于接收从光记录介质上返回的光;其特征在于,
光分束装置,用于使从光记录介质返回的光与从激光源发射的光分束开来;
一个线光栅单元,放置在至少部分所述光接收装置和所述光分束装置之间,用于透过光束中的偏振分量,其中,
所述的线光栅单元其线距"d"与构成栅线的金属导体厚度"h"的比值h/d近似为0.1或大于此值。
2.根据权利要求1的光学传感器,其特征是,一个1/2波片放置在所述光学分束器和线光栅单元之间。
3.根据权利要求2的光学传感器,其特征是,所述的线光栅单元设置成,使主入射光入射至由垂直于线表面内的栅线方向和所述的栅线表面的法线形成的平面上,所述的线距"d"满足下述条件:
d≤λ0·1/(1+sinθ),
其中,θ是经过1/2波片入射至所述栅线的光的入射角,λ0是入射光波长。
4.根据权利要求2的光学传感器,其特征是,所述线光栅单元被设置成,使主入射光入射由所述栅线方向和所述栅线表面的法线形成的平面上,所述的线距"d"满足下述条件:
d≤λ0·1/cosθ
其中,θ是经由1/2波片入射至所述栅线表面的光的入射角,λ0是入射光波长。
5.根据权利要求1的光学传感器,其特征是,在所述的线光栅单元中,线距"d"满足下述条件:
其中,θ是入射至所述栅线表面的光入射角,λ0是入射光波长。
6.根据权利要求1的光学传感器,其特征是,所述的分束装置具有偏振光分束膜。
7.根据权利要求1的光学传感器,其特征是,所述的线光栅设置成,主入射光的入射角是60°或大于此角。
8.一种光学记录介质重现装置,它包括:
一个发射激光束的激光源;
一个物镜,用于把激光源发射的光束聚焦至光记录介质的数据记录表面上;
光接收装置,用于接收从光记录介质返回的光,它具有多个光接收单元;其特征在于,
光分束装置,用于把从激光源发出的光和从光记录介质返回的光进行分束;
一个线光栅单元,它设置在至少部分所述光接收装置和所述光分束装置之间,用于透射光束中的预定偏振分量,所述的线光栅单元其线距"d"与构成栅线的金属导体的厚度"h"之比h/d近似为0.1或大于此值;
用于检测所述光记录介质上信息信号的装置,它是依据用于接收通过线光栅单元透过光束的偏振分量的光接收单元所给出的输出,以及接收所述线光栅单元反射光的偏振分量的光接收单元所给出的输出,来进行检测的。
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