[发明专利]微控制器功能的测试方法

权利要求书

1、一种微控制器功能的测试方法，用以执行下述的测试模式，待测元件的测试结果送至一测试单元，测试单元进行比对，所述测试模式包括有：

一外部模式，将测试单元输出的外部指令输入至待测元件以选择待测元件的测试路径；    

一内部模式，接受由所述测试单元输入的外部指令的选择，使待测元件执行其所储存所内建测试程序以进行自我测试；

一读应用程序模式，接受由所述测试单元输入的外部指令的选择，读取所述待测元件所储存的应用程序的程序码，以供测试单元进行比对。

2、根据权利要求1所述的微控制器功能的测试方法，其特征在于，其测试步骤包括有：

a、判断是否进行测试运作，若否则待测元件正常执行所要执行的程序动作，若是则进入外部模式阶段；

b、于外部模式读取由所述测试单元输入的外部指令，以选择执行外部模式的测试，或选择各种测试模式的测试；

c、若选择外部模式的测试，则待测元件将测试单元输入的外部指令解码及执行指令，并将结果送回测试单元；

d、待各项测试步骤完毕后，测试单元输入一外部指令将测试模式切换至所述读应用程序模式，并执行测试；

e、结束测试。

3、根据权利要求2所述的微控制器功能的测试方法，其特征在于，所述测试步骤C不选择所述外部模式的测试，测试步骤C若选择所述内部模式的测试，则进入所述内部模式并选择要测试的测试功能以执行测试，并将结果送回测试单元。

4、根据权利要求3所述的微控制器的测试方法，其特征在于，若选择内部模式的测试，则待测元件的内建测试程序至少包括一种以上的测试模组功能。

5、根据权利要求2所述的微控制器功能的测试方法，其特征在于，所述测试步骤C可不执行，则测试步骤d为测试单元输入一外部指令将测试模式切换至读应用程序模式，并执行测试。

6、根据权利要求1所述的微控制器功能的测试方法，其特征在于，所述待测元件包括有：

一测试模式切换寄存器，为接受所述测试单元输入的外部指令以选择测试模式，并作各种测试模式转换；

一测试控制线路，电连接至所述测试模式切换寄存器，以控制所述测试单元输入的外部指令的时序，并传送外部指令；    

一多工器，电连接至所述测试控制线路，接受测试控制线路的输出信号；

一控制线路，电连接至所述多工器以接受其输出信号，将输入信号解码及执行，并将执行结果输出至测试单元。

一测试程序记忆体，电连接至所述多工器，用以储存一内建测试程序，于所述内部模式测试时，输出信号至多工器；

一应用程序记忆体，用以储存应用程序，于执行读应用程序模式时，输出程序码；

一记忆体读取装置，电连接至所述多工器，为读取所述应用程序记忆体的程序码，以供测试单元进行比对。