[发明专利]无辐射介质传输线装置和用于测量线路板特性的设备无效
申请号: | 96108513.4 | 申请日: | 1996-07-05 |
公开(公告)号: | CN1099720C | 公开(公告)日: | 2003-01-22 |
发明(设计)人: | 石川容平;谷崎透;西田浩;山下贞夫;齐藤笃 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | H01P3/00 | 分类号: | H01P3/00;H01P11/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 刘晓峰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 介质 传输线 装置 用于 测量 线路板 特性 设备 | ||
1.一种作为集成电路的无辐射介质传输线装置,所述集成电路具有彼此平行放置的无辐射介质传输线,其中,在两个导体之间设置介质条,其特征在于:在所述两个导体之间设置电路板,并且与导体平行,所述电路板上具有导体薄膜或者与导体薄膜一起设置在上面的电路元件,所述电路板上设置的导体薄膜或电路元件靠近所述介质条,或者切入所述介质条,以便将所述导体薄膜或所述电路元件耦合到所述无辐射介质传输线。
2.根据权利要求1所述的作为集成电路的无辐射介质传输线装置,其特征在于:在所述电路板上设置振荡元件和用于传输振荡元件的振荡信号的导体传输线,以及使所述导体传输线靠近或者切入所述介质条,以便把所述振荡信号传输到所述无辐射介质传输线。
3.根据权利要求1所述的作为集成电路的无辐射介质传输线装置,其特征在于:在所述电路板上形成电阻薄膜,以及所述电阻薄膜靠近或者切入所述介质条,以便衰减通过所述无辐射介质线路传输的电磁波。
4.根据权利要求1所述的作为集成电路的无辐射介质传输线装置,其特征在于:并排地设置两条所述介质条,以构成两条无辐射介质传输线,在所述电路板上以1/4波长的间隔设置多个导体薄膜电路,该多个导体薄膜电路设置在所述两条介质条之间,以及使所述多个导体薄膜电路靠近或者使其切入所述两条介质条,以便使所述两条无辐射介质线路之间彼此耦合。
5.一种用于测量电路板特性的设备,其特征在于该设备包括:
两个彼此平行设置的导体,
设置在所述两导体之间的介质条,以及
用于安装电路板的电路板安装部分,在所述两个导体之间设置电路板,并且与所述导体平行,所述电路板上具有导体薄膜或者与导体薄膜一起设置在上面的电路元件,其中,使设置在所述电路板上的所述导体薄膜或者所述电路元件靠近或者切入所述介质条,以便把所述导体薄膜或者所述电路元件耦合到所述无辐射介质传输线;
所述电路板安装部分设置在所述两个导体之间,其中,利用安装在所述电路板安装部分中的电路板,通过所述介质条测量所述电路板的特性。
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