[发明专利]IC插座测试器

说明书

本发明涉及IC插座测试器，特别涉及测试把CPU(中央演算单元)等的IC装置与电路板(PCB)的电路相互连接的IC插座性能的测试机架。

随着IC(集成电路)技术的进步，超小型IC芯片具有极高性能并且具有多功能。作为CPU的一例，例如有可能开发笔记本型个人计算机(PC)等小型计算机。采用CPU的PC主电子电路通常是使用流动焊或回流焊技术在PCB上形成的。

CPU及有关电子装置、零件、特别是包含CPU的有源装置，一般使用称为接插件的IC插座与PCB电路连接。使用IC插座的理由如下。

(1)含有CPU的有源装置一般情况下在锡焊时耐受热量的能力很弱。

(2)为了使使用电子电路的电子设备在工作和维修时比较方便。

(3)为了改善功能(提高等级)和其他目的，便于进行有源装置的交换。

包含CPU的IC装置的价格急剧下降，而CPU占据电子设备价格的主要部分。例如，最近的PC使用32位或64位的CPU具有100至200个或更多的插头脚(引线端子)，这些CPU用的电子接插件或IC插座，必须有相应数量的接触插头。换句话说，IC插座是在约53mm四周具有208个插头脚的高密度接触插头。

为了保证包含CPU的电子电路的动作或功能，208个插头脚或接触点相互间是否完全电气隔离以及在PCB的对应电路(底座)上是否有正确的电气连接(焊锡)，有必要测试IC插座的性能。    

进行有关IC插座性能测试的典型方法是确认在IC插座上直接连接的CPU是否能正确动作。然而，CPU的多个插头脚和IC插座的多个接触点一般都进行了镀金处理，两者间的电气连接良好而且可靠。当把测试CPU直接连接在IC插座的接触点时，平均安装拆卸20次，由于插头损坏，就要掉换新的CPU。该CPU的价格一般约为10,000台湾元(约30,000日元)。

美国专利第5295841号公开了一种IC插座，图6是该IC插座的接触点和CPU的插头的一部分放大的剖面图。例如208个接触点冲裁形成导电性弹性金属板，具有音叉状接触(接触点部分)、保持(固定)部分、以及SMT(表面实装)连接部分。保持部分在接触部分及连接部分间形成，把接触点固定在电介体罩的外周部分。SMT连接部分从罩向外部延伸，在电路板(PCB)的各导体垫片上进行表面实装或结合回流焊锡。音叉状(U字状)接触部分通过插入到图6所示接触点的U字状部分的电介体框架的帮助，以达到与IC(CPU)的引线或各接触点的电接触。

从上述说明可见，由于CPU没有设计成可在IC插座上多次安装拆卸，因此经约20次装拆就损坏了。由于1个以上插头脚的破断或接触部分镀金属的切削可导致其损坏。

这就是说，在IC插座上进行约20次装拆时(即20循环的测试)，1个CPU就损坏了，除去平均1次测试的测试技术员的工资费外，需要约30000日元/20＝1500日元的测试费用。该测试费用加在成品即PC等的原价上，使其价格提高，可能失去竞争力而降低经济效益。

本发明的主要目的就是提供CPU等的高价IC使用的改良IC插座测试器。

本发明的另一目的是提供采用单一测试CPU，在一层有多个IC插座测试的IC插座测试器。

本发明的进一步的目的是提供低测试价格的IC插座测试器。

为了解决上述IC插座测试器的课题，达到以上目的，本发明的IC插座测试器或IC插座测试机架，使用了在表面形成多个大致平行导体的两端镀金的导体垫片，即具有金指状物的4个延长的PCB。把该延长PCB安装在部件上，其一端与测试CPU连接。

本发明的一个合适的实施例使用了具有镀金处理的导体垫片的PCB，平均4个PCB约200台湾元，可进行约1000次测试。因此，平均1次IC插座测试仅需0.2台湾元，与已往直接连接CPU时的约500台湾元相比，费用大幅度下降。而且约每1000次测试才掉换一个新的PCB 。

图1是本发明IC插座测试器的一个实施例的简略斜视图。

图2沿图1的IC插座测试器2-2线的断面图。

图3是图1的IC插座测试器的分解斜视图。

图4是使用图1的IC插座测试器的PCB一例，(A)、(B)、(C)分别表示正面图、侧面图及端部扩大正面图。

图5是表示图1的IC插座测试器的PCB端部和被测试IC接触点的连接状态的扩大断面图。

图6是表示把IC连接到已有的IC插座的状态的扩大断面图。

10.      IC插座测试器(测试机架)