[发明专利]用于制造半导体元件的树脂封装压模无效
申请号: | 96110330.2 | 申请日: | 1996-04-26 |
公开(公告)号: | CN1080934C | 公开(公告)日: | 2002-03-13 |
发明(设计)人: | 通口德昌 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;B29C45/17 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 制造 半导体 元件 树脂 封装 | ||
1.一种用于制造半导体器件的树脂封装压模,包括:
空腔件,所述空腔件具有一空腔,与其相关装有一个其上粘有半导体元件的引线框;
浇口件,所述浇口件具有一包括支流道的浇口部分,用于封装半导体元件的树脂通过支流道流入所述空腔,所述浇口件与所述空腔件是可分开的;
其特征在于还包括:
密封堰,所述密封堰沿所述支流道设置,用来防止树脂液从所述支流道漏出所述引线框。
2.如权利要求1所述的用于制造半导体器件的树脂封装压模,所述的密封堰包括夹紧结构,用于夹紧所述引线使之与所述浇口部分的所述浇口靠紧。
3.如权利要求1所述的用于制造半导体器件的树脂封装压模,所述的密封堰与所述空腔件是连续一体的。
4.如权利要求1所述的用于制造半导体器件的树脂封装压模,所述密封堰具有一分离面与所述空腔件的分离面在同一平面。
5.如权利要求2所述的用于制造半导体器件的树脂封装压模,所述密封堰与所述空腔件是连续一体的。
6.如权利要求2所述的用于制造半导体器件的树脂封装压模,所述密封堰具有一分离面与所述空腔件分离面在同一平面。
7.如权利要求4所述的用于制造半导体器件的树脂封装压模,所述密封堰是与所述空腔件是连续一体的。
8.如权利要求5所述的用于制造半导体器件的树脂封装压模,所述密封堰具有一分离面与所述空腔件的分离面在同一平面。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造