[发明专利]双可控硅自动调节器故障总体检测保护方法与装置

权利要求书

1.一种双可控硅自动调节器(SGT₁、SGT₂)故障总体检测保护方法，其特征在于：

分别从SGT₁和SGT₂中的逆止二极管(Z₁、Z₂)的输入端取其电压输出信号(U_T1、U_T2)；

将U_T1、U_T2进行比较，检出其差值ΔU_T并与SGT₁和SGT₂保护比较元件动作整定值ΔU_TB进行比较；

同时对U_T1和U_T2进行其平均值的微分处理；

对ΔU_T与ΔU_TB的比较结果和U_T1、U_T2的微分结果进行综合逻辑判断和处理：当|ΔU_T|＞ΔU_TB时：

若：逻辑产生SGT₁欠输出故障信号，退出SGT₁运行；

若：逻辑产生SGT₂超输出故障信号，自动退出SGT₂运行；

若：逻辑产生SGT₁超输出故障信号，自动退出SGT₁运行；

若：逻辑产生SGT₂欠输出故障信号，退出SGT₂运行；

若：且或者且同时出现，逻辑不产生输出故障信号。

2.根据权利要求1所述的双可控硅自动调节器故障总体检测保护方法，其特征在于：

当|ΔU_T|＞ΔU_TB时，将|ΔU_T|＞ΔU_TB信号延迟至后备保护故障判断定时限整定值Δt_D，综合逻辑判断产生SGT故障报警信号；

当受控于SGT总输出过电流的反时限过电流继电器输出延时信号时：

若U_T1＞U_T2，逻辑产生SGT₁超输出故障信号，自动退出SGT₁运行；

若U_T2＞U_T1，逻辑产生SGT₂超输出故障信号，自动退出SGT₂运行。