[发明专利]光学记录介质无效
申请号: | 96111417.7 | 申请日: | 1996-08-23 |
公开(公告)号: | CN1087467C | 公开(公告)日: | 2002-07-10 |
发明(设计)人: | 山津久行 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G11B7/24 | 分类号: | G11B7/24 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 冯赓宣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 记录 介质 | ||
1.一种光学记录介质,包括:
一个基片(1);
一个反射膜(13),
其中
所述基片(1)具有形成在其表面之一上的微小的凹凸部分(2);
所述反射膜(13)借助离子束溅射以均匀的厚度被形成在所述基片(1)的所述微小凹凸部分(2)的上表面、底表面和侧表面的每一个上并具有能够从所述光学记录介质读出信息或在所述光学记录介质上记录信息而不引入物理缺陷造成的噪声的足够的颗粒密度;且
设置了一个作为光透射层的透明保护膜(14),通过该透明保护膜(14)对所述光学记录介质进行读取,且该透明保护膜(14)被淀积和形成在所述反射膜(13)上,所述透明保护膜(14)具有小得足以把慧差的影响减小到可忽略的程度的厚度。
2.根据权利要求1的光学记录介质,其中所述反射膜(13)包含作为其主组分的Al。
3.根据权利要求2的光学记录介质,其中用Al制成的所述反射膜(13)被这样形成-即使得Al膜的取向与它所淀积在其上的所述微小凹凸部分(2)的表面相平行。
4.根据权利要求2的光学记录介质,其中用Al制成的所述反射膜(13)包含Ti和Si。
5.一种光学记录介质,包括:
一个第一基片(1A);以及
一个反射膜(13),
其中
设置了一个第二基片(1B),所述第一和第二基片(1A,1B)具有形成在其上的第一和第二微小凹凸部分(21,22),且所述第二基片被叠置在一个半透明膜(23)上并位于与所述第一基片相反的一侧;
所述反射膜(13)和所述半透明膜(23)分别通过离子束溅射而以均匀的厚度被形成在所述第一和第二基片(1A,1B)的微小凹凸部分(21,22)的上表面、底表面和侧表面的每一个上并具有能够从所述光学记录介质读出信息或在所述光学记录介质上记录信息而不引入物理缺陷造成的噪声的足够的颗粒密度;且
设置了作为光透射层的一个透明保护膜(14),通过该透明保护膜(14)而进行对所述光学记录介质的读取,且在透明保护膜(14)被淀积和形成在所述半透明膜(23)和形成在所述第一基片(1A)上的反射膜(13)之间,所述透明保护膜(14)具有小得足以使慧差的影响被减小至可忽略的程度的厚度。
6.根据权利要求5的光学记录介质,其中所述反射膜(13)包含作为其主组分的Al。
7.根据权利要求6的光学记录介质,其中由Al制成的所述反射膜(13)是这样形成的-即使得Al膜的取向应该与它淀积在其上的、具有所述微小凹凸部分(2)的表面相平行。
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