[发明专利]用于加工工件的光束或射束的检测和定位方法装置无效
申请号: | 96112721.X | 申请日: | 1996-10-04 |
公开(公告)号: | CN1089284C | 公开(公告)日: | 2002-08-21 |
发明(设计)人: | N·格罗斯;H·P·赫尔姆 | 申请(专利权)人: | 埃尔帕特朗尼股份公司 |
主分类号: | B23K26/04 | 分类号: | B23K26/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 姜郛厚,萧掬昌 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 加工 工件 光束 检测 定位 方法 装置 | ||
1.用于加工工件的光束或射束的监测和定位方法,在其中用设在光束或射束前面的至少一个第一传感器和/或一个预定值来确定光束或射束应该跟随的路径,以及设在光束或射束后面的第二传感器,用于监测光束或射束的动作,其特征是:
把第一传感器获得的与光束或射束的所需位置有关的读数和/或上述预定值与第二传感器获得的与光束或射束的实际位置有关的读数相比较,考虑到光束或射束与工件之间与速度有关的相对位移,并且在实际位置偏离了所需位置时把光束或射束校正到其基准位置。
2.按照权利要求1的用于加工工件的光束或射束的监测和定位方法,其特征是光束或射束的所需位置是利用光切割技术或是光切割和灰度等级图像分析技术的组合来检测的,而光束或射束的实际位置是利用灰度等级图像分析技术或是光切割和灰度等级图像分析技术的组合来检测的,并且把上述检测到的位置相互比较。
3.用于加工工件的光束或射束的监测和定位的装置,在其中用设在光束或射束前面的至少一个第一传感器和/或一个预定值来确定光束或射束应该跟随的路径,以及设在光束或射束后面的第二传感器,用于监测光束或射束的动作,其特征是其中的第二和/或第一传感器被连接到一个控制单元,用控制单元比较两个传感器获得的读数,控制单元被连接到一个移动装置,用于在光束或射束与工件之间产生相对位移。
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