[发明专利]直接测定多组份的微分谱解谱分析法

说明书

本发明属光谱分析测定领域，具体涉及一种直接测定多组份体系的微分谱解谱分析法。

目前光谱分析方法已广泛应用，但分析步骤繁杂，如陈国珍等著紫外一可见光一分光光度法一书，1987年出版其中涉及稀土元素的测定，首先要经过稀土元素的分离和富集，其常见方法有沉淀分离，溶剂萃取，柱液相色谱，纸上色谱和薄层色谱等，分离之后还需采用偶氮胂Ⅲ法，偶氮氯膦Ⅳ法，偶氮氯膦mA法等，再经过一系列复杂的化学反应，绘制出标准曲线，最后才能进行试样的分析。这种分析方法，步骤繁杂，耗时，耗力，耗财，样品经过反复分离提纯，多次化学反应，损耗大，因而检测误差也大。

本发明的目的在于提供一种可直接进行测定，多组份体系不需分离，运用计算机程序解析的快速，准确，简便的微分谱解谱分析方法。

本发明的技术方案如下：本发明对多组份体系在不需分离状态下，使用计算机程序进行微分谱解谱分析，进行直接测定。其步骤如下：S0：从存有待测样品微分谱文件的硬盘或软盘读取谱图数据。S1：按照公式 B - ≡ 1 N Σ j = 1 N B ~ j ; ]]>计算出B值，其中为被测量样品在波长λ_j

处的微分值，N为扫描点。S2：从存有标准微分谱文件的硬盘或软盘读取第ⅰ种物质的标准谱图数据。S3：找出标准谱图特征峰位(λ)S4：按照公式 D - j ≡ 1 N Σ j = 1 N D ij ]]>计算D_i值，式中，N为扫描点数，D_ij为第ⅰ种组份在波长λ_j处的摩尔微分系数，按照公式 H ip ≡ Σ j = 1 N ( D ij - D - i ) · ( D pj - D - p ) ]]>(i=1,2,……,k；p=1,2,……,k)，计算H_ip值，式中，H_ip为根据上式定义的数学符号，按照公式 B io ≡ Σ i = 1 k H ip · C i ]]>计算B_io值，B_io为上式定义的数学符号。S5：按照公式 Q = Σ j = 1 N ( B j - B ~ j ) 2 ]]>→min计算Q值，Q为拟合的残差平方和，如果测量谱和标准谱的峰位一致，则残差平方和最小，这里特征峰位与标准谱图峰位差为波长漂移量，否则，标准谱移动Δλ纳米后，返回S4，重新求出Q值，直到最小。S6：所有各组份标准谱图的波长漂移量都求出后，拟合达到最佳状态，此时Q值接近于0或等于0，否则返回S2。S7：根据公式求出R值，式中R为复相关系数，U和S为上式定义的数学符号，判断R值接近1或等于1，直接进入S8，否则结果供参考。S8：输出计算结果：C₁,C₂,C₃……C_kS9：结束：