[发明专利]多组份解谱分析法

说明书

本发明涉及一种多组份直接分析方法，更具体地说是一种利用计算机解谱直接测定多组份体系的分析方法。

传统的多组份体系的分光光度分析方法，是通过对各组份特征吸收谱或特征吸收值的测定来完成的，由于各组份吸收谱经常有重叠干扰，严重影响测定结果，因而要采取化学分离或掩蔽的办法消除干扰，完成对各种组份的一一测定。这样做不仅比较麻烦，有的在分离或掩蔽过程中还会还入杂质或发生化学变化，并且，传统方法是通过测量某一波长或有限的几个波长下的吸收值作分析研究测定工作的，会出现比较大的实验误差。

本发明的目的在于克服上述方法的缺陷，尤其是由于谱峰相互重叠干扰给分析带来的困难，提供一种简便、快捷、无须化学分离操作、可以直接对多组份体系进行计算机解谱分析的方法。

为实现上述目的，采用如下技术方案：

本发明为一种测定多组份体系浓度的谱图分析方法，其特征在于利用计算机解谱法直接测定多组份体系中的各组份浓度，其步骤如下：

(1)在测量仪器上得到某物理量一定范围，如分光光度计一定波长范围(λ₁～λ_N)内的各种待测组份的标准谱图；    

(2)在测量仪器上与测标准谱相同条件下得到待测体系的混合谱图；

(3)计算机运行下述解谱程序，计算出多组份体系中各组份的摩尔浓度，解谱程序按下列操作顺序：

S0：启动解谱程序；

S1：用已知的数据转换程序，将步骤(1)得到的各组份标准谱图及步骤(2)得到的混合谱图输入计算机；

S2：按照公式； A - = 1 N Σ j = 1 N A j ]]>求出A值，A_j为步骤(2)得到的谱图吸收值，j为扫描点数，j=1,2......,N，共N点；

S3：从S1步建立的标准谱数据库中读入待测第ⅰ种组份的标准谱图数据；

S4：找出第ⅰ种组份标准谱的特征峰位λ_M；