[发明专利]缺相及相序检测、保护装置在审

专利信息
申请号: 96117197.9 申请日: 1996-12-02
公开(公告)号: CN1158018A 公开(公告)日: 1997-08-27
发明(设计)人: 万才春;李辉 申请(专利权)人: 李辉
主分类号: H02H3/00 分类号: H02H3/00
代理公司: 江苏省专利事务所 代理人: 沈根水
地址: 210017 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 检测 保护装置
【权利要求书】:

1、缺相及相序检测、保护装置,其特征是有缺相及相序检测器(2)及取样器(1)和保护器、电源组成。

2、根据权利要求1所述的缺相及相序检测、保护装置,其特征是缺相及相序检测器是有A、B、C三相,其中B相的电阻支路接A相移相支路,C相的电阻支路接B相移相支路,A相的电阻支路接C相移相支路。

3、根据权利要求1、2所述的缺相及相序检测、保护装置,其特征是缺相及相序检测器中的移相支路是由电阻和电容串接或并接构成。

4、根据权利要求1所述的缺相及相序检测、保护装置,其特征是取样器的三只二极管D21-D23的正端分别接缺相及相序检测器的输出端a、b、c,二极管D21-D23的负端为取样电路的一个输出端,它与另一个输出端零线N之间串接电阻RL

5、根据权利要求1所述的缺相及相序检测、保护装置,其特征是取样器的三个输入端a、b、c分别连接二极管D24-D29中的二只串接二极管的连接点,二极管D24-D29的正、负端为取样器的二个输出端,输出端间串接电阻RL

6、根据权利要求4、5所述的缺相及相序检测、保护装置,其特征是取样器输出端间的电阻RL的取值为1KΩ-4.7KΩ。

7、根据权利要求1所述的缺相及相序检测、保护装置,其特征是保护器有继电器触头输出或双向可控硅无触点输出或光隔晶体三极管输出。

8、根据权利要求1所述的缺相及相序检测、保护装置,其特征是电源中的A、B、C三相分别接二极管D7-D12中的二只串接二极管的连接点,三只电容C1接组成三相降压电路。

9、根据权利要求1、2所述的缺相及相序检测、保护装置,其特征是每相电阻支路上的电阻R与取样器输出端间串接的电阻RL的阻值关系:R>>RL

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