[发明专利]能够读取多个光盘的集成光学拾取系统

说明书

本发明涉及一种集成光学拾取系统；而且，更具体地，涉及一种能够读不同厚度的光盘的改进的集成光学拾取系统。

众所周知，短波长光源和大数值孔径(NA)是用于实现高密度光存储的光学拾取头的重要光学因素。一般地，大数值孔径透镜，例如0.6，最好被用于其厚度例如是0.6毫米的薄光盘；因而，若一个用于读薄光盘的光学头被用于读一块传统的1.2毫米光盘，则可能由于盘厚度的不同而发生球面像差，这种像差必须加以修正。

因而，带有全息光学元件(HOE)的双焦点光学头被引入以解决此问题。在图1中示出了用于再生存储在一个薄光盘和一个厚光盘上的信息信号的双焦点光学头100，这两个盘装在盘托上，其中每一个光盘有一个相应的记录面，这种系统被描述于例如Kanda和Hayashi的“Dual FocusOptical Head for 0.6mm and 1.2mmDisks”，SPIE第2338卷，Optical Data Storage(1994)/283。该双焦点光学头100包括：一用于产生一光束的光源126，一光束分光器106，一准直透镜108，一HOE 110，一物镜112，一柱面透镜104和一有四个光电单元的检测器102，其中HOE110被设计成一个凹透镜，该凹透镜的+1级衍射光束128的焦距大于0级衍射光束124的焦距。

在该光学头100中，当一薄光盘116装在盘托上时，从HOE 110透射的0级衍射光束124被用于再生薄光盘116的记录面118上的信息信号。在这种情况下，从例如一激光二极管的光源126发射的光束经光束分光器106和准直透镜108进入HOE110，该光束分光器106将入射在安装于其中的一表面上的光束部分反射并使其部分穿过，而该准直透镜108用于使来自光束分光器106的光束平行。这种情况中，对于平行光束的0级衍射光束124，HOE110起的作用只是一块平行板。该0级衍射光束124被物镜112聚焦于薄光盘116的记录面118上。当0级衍射光束124从薄光盘116经物镜112被反射至HOE110时，HOE110起的作用又是一块平行板。0级衍射光束124在穿过准直透镜108和光束分光器106以后，穿过柱面透镜104而变得象散，使检测器102读取薄光盘116的记录面118上的信息信号。

同时，为了再生厚光盘122的记录面120上的信息信号，使用了从HOE110透射的+1级衍射光束128。应该注意到，对于光学头100中的+1级衍射光束128，除去HOE110以外，光学部件的功能和结构类似于对于0级衍射光束124的。在这种情况下，HOE110连同物镜112起的作用是一个透镜，用于将+1级衍射光束128聚焦到厚光盘122的记录面120上。因此，用于薄光盘116的光学头100能够再生厚光盘122的记录面120上的信息信号。

然而，有许多问题与上述光学头100有关。先有技术的该光学头100要求很多笨重的离散的部件，使其装配和校准很复杂且昂贵，又需要一用于检测聚焦误差信号的柱面透镜104，由此使该光学头100更加复杂。

因此，本发明的主要目的是提供一减小了尺寸的集成光学拾取系统，其装配和校准较简单。

根据本发明，提供了一集成光学拾取系统，用于读取一记录在一选定光盘的记录面上的信息信号，该选定的光盘是从N个光盘中选出的，N为一正整数，其中N个光盘中的任何一个的记录面和该集成光学拾取系统之间的距离与所有其它的都不同，该光学拾取系统包括：一第一光导，用于产生N个会聚光束以将其中之一射向该选定光盘的记录面上，并在该会聚光束中所述的那束被从该选定光盘的记录面上反射之后将其准直，其中N个会聚光束中的每一个能够被分别聚焦在一相应光盘记录面上；和一第二光导，该光导有一能够测量被测光束的强度的检测器和一用于将该准直光束导向并聚焦在该检测器上的光学器件，由此读下该选定光盘的记录面上的信息信号。

本发明的以上及其它目的和优点将从下面结合附图对优选实施例的描述中变得显而易见，其中：

图1表示先有技术的光学拾取系统的侧视示意图；

图2示出根据本发明的一集成光学拾取系统的剖面示意图；

图3示出根据本发明的一光学器件的平面图。