[发明专利]决定阴极射线管中铝化发光荧光屏质量的方法无效
申请号: | 96121401.5 | 申请日: | 1996-11-07 |
公开(公告)号: | CN1161559A | 公开(公告)日: | 1997-10-08 |
发明(设计)人: | 小G·M·艾希曼;小R·拉佩卢塔;小E·R·加力蒂 | 申请(专利权)人: | 汤姆森消费电子有限公司 |
主分类号: | H01J9/42 | 分类号: | H01J9/42 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴增勇,萧掬昌 |
地址: | 美国印*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 决定 阴极射线管 中铝化 发光 荧光屏 质量 方法 | ||
本发明涉及检测阴极射线管铝化面板玻屏的方法,更具体地说,涉及在面板玻屏退火和封接到阴极射线管(下文简称CRT)的锥形部分以前,测定铝层质量的方法,该铝层覆盖在发光荧光屏上。
在制造CRT发光荧光屏时,三种发光荧光粉以三元组的形式涂复在面板玻屏的内表面的有用区域上。每一个三元组由发兰、绿、红三种光的荧光粉材料构成。众所周知,设置复盖在荧光粉材料上的铝层是为了通过玻屏的视面向外给观众反射荧光粉材料所发的光。然而,要得到最大的光输出,就必须保证铝层是光滑的,并且是强反射的。为了达到这个目的,在荧光材料和铝层之间配置一层薄材料。该薄膜材料形成填充分立的荧光颗粒之间的空隙的垫层,使得所覆的铝层有可能形成光滑和连续的表面。本专业中已经知道,铝化荧光层的完整性的试验方法是通过涡流电流试验来测量铝层的厚度。涡流电流方法使用几对电感线圈,在铝化以后,线圈放到玻屏观察面板的外表面附近。一对线圈对准玻屏的中心,另二对线圈分别对准针面2点钟角和8点钟角。每对中的一个线圈由一射频电源激励,由于在玻屏的内表面上覆盖在荧光屏上的非常薄的铝层的缘故,所述激励就在第二个线圈上感应起信号电压。当不存在铝层时,或在铝层非常薄时,感应的电压信号很强,通过把电压信号与定标标准相比较而将这种玻屏报废。然而,如果铝层的厚度在希望的极限范围内,在第二线圈上感应的涡流电压就低,铝化荧光屏是可接受的合格品。不幸的是,涡流试验方法并不能确保安全,一些具有足够厚度的铝层的玻屏可能将被判报废,因为铝层对于形成的涡流电流不够光滑、或不够连续。因此,希望有更可靠的试验方法,不会把好屏误认为废品。
其次,面板玻屏在高温下焙烧,以去掉包括薄膜材料层在内的易挥发的组分。当荧光屏焙烧时,铝层会包含很多小孔或微孔,荧光屏的易挥发物质通过这些小孔释放出来,而对铝层的反射没有不利的影响。铝层上的小孔或微孔可用于更可靠的试验方法,不仅能评价铝层的质量,而且也能评价薄膜层的有效性。
本发明涉及测定CRT的铝化、发光荧光屏的质量的方法。发光荧光屏设置在面板玻屏的内表面,铝层覆盖在荧光屏上。本方法包括以下步骤:把铝层暴露在紫外线中;以及测量由荧光屏发出的穿过铝层的光。
在附图中:
图1是CRT的部分剖面图,面板玻屏具有铝化的发光荧光屏;
图2是根据本发明的试验装置的简图;
图3表示图2的圆圈3内的铝化发光荧光屏的一部分;
图4表示使用图2的试验装置的发光荧光屏的轮廓图;和
图5是根据本发明的另一种试验装置的简图。
图1表示有玻璃外壳11的方角彩色CRT10,该玻璃外壳包含直角面板玻屏12和一个与矩形玻锥16相连的管颈14。玻屏12包含观察面板18和通过熔接密封部分21与玻锥16相对接的边壁20。面板玻屏12包括二个正交轴:主轴X-X,平行于其宽边(通常是水平方向),和短轴Y-Y,平行于其窄边(通常是垂直方向)。主轴和短轴垂直于中心纵轴Z-Z,该中心轴Z-Z通过管颈14的中心和玻屏12的中心伸展。在玻屏12的内表面形成三色发光荧光屏22。如图3所示,荧光屏22分别由兰、绿、红发光荧光单元B、G、R组成,所述三种发光荧单元以三种发光颜色的循环组或三元组形式排列。荧光屏22最好为条形屏,其荧光条基本上平行于短轴Y-Y而延伸。另一种荧光屏可以是点状屏。很薄的金属层、例如铝23,覆盖在发光的荧光屏22上,如此相组合,形成发光荧光屏组件24。多孔的色选择电极,例如荫罩25被安装到框架26上,并且按常规方法可拆卸地安装(未示出),与发光荧光屏组件24保持预定的距离。电子枪27安装在管颈145内的中心位置,它产生和控制三个电子束,(也未表示出)沿会聚的路径穿过阴罩24的开孔28打到荧光屏22上。管子10预定带有位于玻锥与管颈接合处附近的外磁场偏转线圈,例如偏转线圈29。当被激励时,偏转线圈29使三个电子束置于磁场作用之下,使电子束在水平方向上和垂直方向上扫描,从而在荧光屏22上形成矩形光栅。
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