[发明专利]电阻温度计无效

专利信息
申请号: 96122098.8 申请日: 1996-10-30
公开(公告)号: CN1046029C 公开(公告)日: 1999-10-27
发明(设计)人: K·韦南德;S·迪特曼;W·恩格勒特;E·索尔 申请(专利权)人: 赫罗伊斯电气一耐特国际有限公司
主分类号: G01K7/18 分类号: G01K7/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 萧掬昌,张志醒
地址: 比利时*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电阻 温度计
【权利要求书】:

1.一种带有电阻层状的测量电阻的电阻温度计,该电阻层厚0.1至10μm,基本上由铂族金属组成,它被涂敷在热膨胀系数为8.5至10.5ppm/k范围内的载体基底的电绝缘表面上,它还设有电绝缘覆盖层,其特征在于,该载体采用由钛酸镁制作的基片(1)。

2.根据权利要求1的电阻温度计,其特征在于,在基片(1)和电阻层(4)之间涂敷一层氧化铝或氧化镁中间层(3)。

3.根据权利要求1或2的电阻温度计,其特征在于,覆盖层(5)由硼硅玻璃组成。

4.根据权利要求3的电阻温度计,其特征在于,硼硅玻璃的厚度在10μm至100μm的范围里。

5.根据权利要求1或2的电阻温度计,其特征在于,覆盖层(5)是基片(1)材料制的陶瓷叠层。

6.根据权利要求5的电阻温度计,其特征在于,陶瓷叠层的厚度为0.1至1mm。

7.根据权利要求5或6的电阻温度计,其特征在于,作为覆盖层(5)的陶瓷叠层用陶瓷键合剂或玻璃焊剂附着在电阻层(4)和基片(1)上。

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