[发明专利]电阻温度计无效
申请号: | 96122098.8 | 申请日: | 1996-10-30 |
公开(公告)号: | CN1046029C | 公开(公告)日: | 1999-10-27 |
发明(设计)人: | K·韦南德;S·迪特曼;W·恩格勒特;E·索尔 | 申请(专利权)人: | 赫罗伊斯电气一耐特国际有限公司 |
主分类号: | G01K7/18 | 分类号: | G01K7/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 萧掬昌,张志醒 |
地址: | 比利时*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电阻 温度计 | ||
1.一种带有电阻层状的测量电阻的电阻温度计,该电阻层厚0.1至10μm,基本上由铂族金属组成,它被涂敷在热膨胀系数为8.5至10.5ppm/k范围内的载体基底的电绝缘表面上,它还设有电绝缘覆盖层,其特征在于,该载体采用由钛酸镁制作的基片(1)。
2.根据权利要求1的电阻温度计,其特征在于,在基片(1)和电阻层(4)之间涂敷一层氧化铝或氧化镁中间层(3)。
3.根据权利要求1或2的电阻温度计,其特征在于,覆盖层(5)由硼硅玻璃组成。
4.根据权利要求3的电阻温度计,其特征在于,硼硅玻璃的厚度在10μm至100μm的范围里。
5.根据权利要求1或2的电阻温度计,其特征在于,覆盖层(5)是基片(1)材料制的陶瓷叠层。
6.根据权利要求5的电阻温度计,其特征在于,陶瓷叠层的厚度为0.1至1mm。
7.根据权利要求5或6的电阻温度计,其特征在于,作为覆盖层(5)的陶瓷叠层用陶瓷键合剂或玻璃焊剂附着在电阻层(4)和基片(1)上。
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