[发明专利]入射光荧光显微镜

权利要求书

1.一种入射光萤光显微镜，其特征是该显微镜包括：透射照射光学系统，该透射照射光学系统具有接收发自光源(1)的光并分离透射过来的光(10)的第一光学元件(2，14)，并且把透射过来的光(10)照射到一个样品(6)上；观测光学系统，该观测光学系统具有物镜(7)和第二光学元件(12)并定位于比样品(6)更靠近所述物镜(7)；及配置在所述观测光学系统中的入射光萤光照射光学系统，其中

所述第一光学元件(2，14)在比萤光波长更长的波长处具有透射率的峰值，而且所述第二光学元件(12)只是选择性地调制透射过所述第一光学元件(2，14)的波长。

2.如权利要求1所述的一种显微镜，其特征是所述透射照射光学系统和所述观测光学系统都基于差示干涉观测方法。

3.如权利要求2所述的一种显微镜，其特征是所述第一光学元件(2)是一个带通滤光器(2)，而所述第二光学元件(12)是一个分色镜(12)。

4.如权利要求2所述的一种显微镜，其特征是所述第一光学元件(14)是一个锐截止滤光器(14)，而所述第二光学元件(12)是一个分色镜(12)。

5.如权利要求3所述的一种显微镜，其特征是所述带通滤光器(2)具有这样一种光谱透射率特性，其中峰值处于所述分色镜(12)的P偏振光和S偏振光的后沿之间。

6.如权利要求4所述的一种显微镜，其特征是所述锐截止滤光器(14)具有这样一种光谱透射率特性，即滤光器(14)在分色镜(12)的S偏振光的后沿截断一个波长范围，并在分色镜(12)的P偏振光的后沿透射该波长范围。

7.如权利要求3所述的一种显微镜，其特征是：

所述观测光学系统包括物镜(7)、一个双折射元件(4)、分色镜(12)、以及一个吸收滤光片(13)，

所述分色镜(12)具有这样一种光谱透射率特性，其中某一上升的透射波长与吸收滤光片(13)的上升的透射波长基本相同。

8.如权利要求1所述的一种显微镜，其特征是所述透射照射光学系统和所述观测光学系统都基于光瞳调制显微方法，而所述第一光学元件(2，14)在比萤光波长更长的波长处具有透射率的峰值，而且所述第二光学元件(12)只是调制透射过第一光学元件(2，14)的波长。

9.如权利要求8所述的一种显微镜，其特征所述观测光学系统基于作为上述光瞳调制显微方法的霍夫曼调制方法。

10.如权利要求9所述的一种显微镜，其特征是所述第一光学元件(2)是一个带通滤光器(2)，而所述第二光学元件(12)是一个分色镜(12)。

11.如权利要求10所述的一种显微镜，其特征是：

所述观测光学系统包括分色镜(12)、一个吸收滤光片(13)、和一个调制器(31)，并且

所述带通滤光器(2)具有这样一种光谱透射率范围，其中一个下降波长范围基本上与所述调制器(31)的下降波长范围相同。

12.如权利要求9所述的一种显微镜，其特征是：

所述观测光学系统包括一个光瞳投影透镜(51)，并且

所述光瞳投影透镜(51)安置在所述物镜(7)的出射光瞳平面的一个光学共轭位置。

13.如权利要求9所述的一种显微镜，其特征是：

所述透射照射光学系统包括一个光阑(61)和一个聚光透镜(28)，并且

所述光阑(61)安置在所述聚光透镜(28)的前焦面的一个光学共轭位置。

14.如权利要求8所述的一种显微镜，其特征是所述观测光学系统基于作为上述光瞳调制方法的相差显微方法，而所述第一光学元件(2，14)在比萤光波长更长的波长处具有一个透射率的峰值，并且所述第二光学元件(12)只是选择性地调制透射过第一光学元件(2，14)的波长。

15.如权利要求14所述的一种显微镜，其特征是所述第一光学元件(2)是一个带通滤光器(2)，而所述第二光学元件(12)是一个分色镜(12)。