[发明专利]存储和恢复信息的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及存储信息的方法和装置。最好是将本装置制成一存储卡。这样的卡可用于公共数据存储和图书馆、保键中心的文件归档，也可用来替代微缩胶片系统。本发明还涉及定位这样的卡的系统。

已有技术

美国Dexter公司和日本佳能提供商用的已有技术之光学存储卡。已有技术卡的存储容量是4.2 MB，读写速度大约为30KB/S。当高能激光束在卡的薄金属层上灼烧出一个坑时便存储了卡中的信息。通过检测来自存储点和所述金属层的光反射差值来读取卡片i中存储的信息。

本发明的概述

按照本发明，使用一种被动存储媒质，它带有一具有光致光吸收和发射特性的层。最好是将该层中带有多个单元的区域暴露到含有任何希望信息的图象，由此在媒质中写入或存储数据。当该层暴露于不同光下，则单元的特性发生变化。将所述单元暴露于光照之下并分析每个单元的吸收特性而读出数据。由光学系统传导和控制光。

包括有多用途物镜的光学系统用来执行下列任务：

·将数据写入存储介质

·从存储介质中读出数据

·误差信号生成，以便保持存储介质的位置

·按Z方向放置存储介质

可以将写定义为由线性偏振激光(最好是兰激光)对存储介质的光学特性进行局布改变。为了进行写，应适当地控制光波长、光强度(空间分布和振幅)、强度分布图、光偏振及波前形状。

可以将读出定义为恢复存储介质中的编码信息。为进行读取，应适当地控制光波长、光强度(空间分布和振幅)、光偏振和波前形状。最好使用红激光。

能够移动存储材料的装置使用误差信号来确定什么时候将存储象素精确且清晰地成象到CCD象素上。这要求控制：

-存储介质的X-Y轴的位置(即在其平面内平移)

-存储介质的取向(即绕与其平面垂直的Z轴旋转)

-存储介质沿Z轴的位置(即与其平面垂直)

存储介质的X-Y位置将由在制造时写入存储介质的特定“标记符号”来识别。光探测器产生它们的错误位置(平移及取向)引起的误差信号，它们由物镜成象在光探测器上。这一过程是一种“跟踪”(tracking)。

存储材料沿Z轴的定位由其它装置控制。有一透镜系统，它在存储介质上产生距物镜固定距离的聚焦光点。这些光点由存储卡反射，然后经透镜系统由光探测器分析。该过程和类似过程被称为“自动聚焦”。

光学系统还必须进行校正，它由自动聚焦的误差信号确定。这要求物镜的部件是可移动的，与光学系统的其它部件相分离。

照明功能，传送包含存储到存储介质上的信息的光之功能，将存储介质成象在探测器上的功能以及误差信号生成功能最好都由同一物镜来执行。然而，不同功能要求一些另外的元件。

最好使用侧链液晶质(SCLC)聚脂胶片作为存储介质。在电光元件上产生含有要存储信息的影象，并成象在存储介质上。在一个实施例中，将存储介质做成一“一次写入多次读取”(WORM)装置。可以清除任意存储位置的存储信息；然后再在清除位置写入。或者通过一步清除整个存储介质或者通过选择地清除特定存储块来清除数据。也可以将按照本发明的装置用于更传统的旋转介质。

附图的简要说明

图1是表示在按本发明的一个实施例中写和读信息的光学及电学方框图；

图2是表示按本发明的一个实施例中的光学结构侧视图，其中使用激光矩阵作为光源；

图3a-3f表示在使用产生光矩阵的电可寻址电光元件的系统中写和读的步骤；

图4a-图4f说明在按本发明的另一系统中写和读的步骤；

图5是表示按本发明的存储卡的实施例结构的透视图；

图6是按本发明的另一实施例的透视图；

图7是表示按本发明的另一实施例的示意图，其中存储块能被选择性清除；

图8说明用于旋转存储系统中的本发明的实施例；

图9是表示按本发明存储介质的基本单元的定义的示意图，及

图10是表示用于本发明的一个实施例中的物镜的实施例的侧视图；

图11a和图11b表示另一实施例，其中反射光用来读取信息；

图12是包括在本发明实施例中的光学和电学元件的透视图；

图13是图12所示实施例的放大图；

图14是在本发明的一个实施例中使用的存储介质切口部分的示意图；及

图15表示图14中的部分处于错误位置。

详细描述