[实用新型]薄膜热敏电阻红外线探测器无效
申请号: | 96222515.0 | 申请日: | 1996-09-05 |
公开(公告)号: | CN2275243Y | 公开(公告)日: | 1998-02-25 |
发明(设计)人: | 梁仁杰;黄玢 | 申请(专利权)人: | 马开荣;郭兴华 |
主分类号: | G01N21/00 | 分类号: | G01N21/00 |
代理公司: | 中科专利代理有限责任公司 | 代理人: | 刘文意 |
地址: | 100029 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 热敏电阻 红外线 探测器 | ||
1.一种薄膜热敏电阻红外探测器,其特征在于它包含有:聚光锗透镜、阻挡层、类金刚石膜介质层、铬金导电层、薄膜热敏电阻、陶瓷或其它绝缘材料过渡电极、内引线和外壳及管脚,其中,在锗透镜平面上的补偿热敏电阻处设阻挡层,在整个锗透镜平面上设有一层类金刚石膜,在类金刚石薄膜介质层上设置铬金导电层布线,锗透镜轴中心位置上及其旁侧有阻挡层的位置上,设置二个薄膜热敏电阻,在铬金导电层的三端点分别引出三根细金丝,即内引线,把这些细金丝分别焊在陶瓷或其它绝缘材料过渡电极上,又在过渡电极上另用三根较粗导线将它直接焊到探测器管座的管腿上。
2.按照权利要求1所说的薄膜热敏电阻红外探测器,其特征在于所说的薄膜热敏电阻中的锰镍钴三元素的原子比,一般是锰在60至80%,镍在14至5%,钴在26至15%。
3.按照权利要求1所说的薄膜热敏电阻红外探测器,其特征在于所说的介质层是由一层类金刚石薄膜组成的。
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