[发明专利]电器和电气设备的劣化诊断方法及装置

权利要求书

1．一种电器和电气设备的劣化诊断方法，其中从至少二类具有互相不同波长的单色光源出射的照射光经由照射用光纤引入到电器和电气设备的里边，从照射用光纤出射的发射光穿过具有透射距离a的绝缘介质，此后，进入导向电器和电气设备外边的接受光用光纤并被传输和引入光量测量单元，该劣化诊断方法其特征在于包括步骤：

调节各单色光光源的强度以使它们在光量测量单元上的光强显示恒定值；

此后使从单色光的光源出射的照射光经由照射用光纤引入电器和电气设备的里边；

照射处于具有a/2透射距离的位置上的绝缘材料的表面；

使从绝缘材料的表面反射的光通过使用使从绝缘材料的表面出射的反射光导向电器和电气设备外边的接受光用光纤导入光量测量单元；

在劣化程度数据处理单元中，根据从光量测量单元输出值按照公式(1)对各波长计算反射吸收率(Aλ)；

根据公式(2)处理任何二个波长的反射吸收率之间的反射吸收率差(ΔAλ)或是根据公式(3)处理任何二个波长的反射吸收率之间的反射吸收率比(Aλ′)；和

通过比较预先以总曲线形式存储的被测绝缘材料的劣化程度与数据处理过的反射吸收率差或是与反射吸收率比之间的关系的进一步数据处理来判断绝缘材料的劣化程度，Aλ=-log(Rλ/100)    …(1)ΔAλ=Aλ1-Aλ2    (其中λ1＜λ2)…(2)Aλ′=Aλ1/Aλ2(其中λ1＜λ2)    …(3)其中被测绝缘材料在波长λ(纳米)上的反射率被定为Rλ(％)。

2．根据权利要求1的电器和电气设备的劣化诊断方法，其特征在于具有大于650纳米和小于1310纳米的峰值波长的半导体激光器或是发光二极管被用作单色光的光源。

3．根据权利要求1的电器和电气设备的劣化诊断方法，其特征在于绝缘介质是液体全氟化碳、矿物油系列绝缘油、SF₆气体和空气之一。

4．根据权利要求1的电器和电气设备的劣化诊断方法，其特征在于被测反射光强度的绝缘材料是纤维素系列绝缘纸、牛皮纸、压制纸板和模压树脂之一。

5．一种电器和电气设备的劣化诊断方法，其中从幅射连续白色光的卤素灯出射的照射光通过分光镜使用照射用光纤输入电力机器和设备的里边，从照射用光纤出射的发射光透过具有透射距离a的绝缘介质，此后，进入导向电器和电气设备外边的接受光用光纤并被传输和输入光量测量单元，该劣化诊断方法其特征在于包括步骤：

测量照射光强度的波长相依性；

此后使从卤素灯出射的照射光经由照射用光纤输入电器和电气设备的里边；

照射处于具有a/2透射距离的位置上的绝缘材料的表面；

使从绝缘材料表面反射的光通过使用将绝缘材料表面出射的反射光导向电器和电气设备外边的接受光用光纤导入光量测量单元；

在劣化程度数据处理单元中，根据从光量测量单元输出值按照公式(1)对各波长计算反射吸收率(Aλ)；

按照公式(2)处理任何二个波长的反射吸收率之间的反射吸收率差(ΔAλ)或是按照公式(3)处理任何二个波长的反射吸收率之间的反射吸收率比(Aλ′)；和

通过比较预先以总曲线形式存储的被测绝缘材料的劣化程度和数据处理过的反射吸收率差或是反射吸收率比之间的关系的进一步数据处理来判断绝缘材料的劣化程度，Aλ=-log(Rλ/100)    …(1)ΔAλ=Aλ1-Aλ2    (其中λ1＜λ2)    …(2)Aλ′=Aλ1/Aλ2    (其中λ1＜λ2)    …(3)其中被测绝缘材料在波长λ(纳米)上的反射率被定为Rλ(％)。

6．根据权利要求5的电器和电气设备的劣化诊断方法，其特征在于绝缘介质是液体全氟化碳、矿物油系列绝缘油、SF₆气体和空气之一。

7．根据权利要求5的电器和电气设备的劣化诊断方法，其特征在于被测反射光强度的绝缘材料是纤维素系列绝缘纸、牛皮纸、压制纸板和模压树脂之一。