[发明专利]用于测量超声波强度的设备无效
申请号: | 97114740.X | 申请日: | 1997-07-15 |
公开(公告)号: | CN1184250A | 公开(公告)日: | 1998-06-10 |
发明(设计)人: | 赵升仁 | 申请(专利权)人: | 三星电管株式会社 |
主分类号: | G01H1/12 | 分类号: | G01H1/12 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曹永来,黄力行 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 超声波 强度 设备 | ||
1.一种用于测量由放在清洗箱中的膜片产生的超声波强度的设备,它包括:
一个框架,该框架包括与一个六面体的每侧对应的杆;
多个铝箔,铝箔彼此以预定间隔隔开并且垂直于所述框架的4个平行杆。
2.如权利要求1所述的用于测量超声波强度的设备,其特征在于,所述铝箔可拆卸地安装在所述框架上。
3.如权利要求1所述的用于测量超声波强度的设备,其特征在于,它还包括用于支承所述铝箔外边的辅助框架。
4.如权利要求3所述的用于测量超声波强度的设备,其特征在于,在所述4个平行杆上形成有预定间隔的凹槽,所述辅助框架可拆卸地安装在所述凹槽中。
5.如权利要求4所述的用于测量超声波强度的设备,其特征在于,所述凹槽以由所述膜片产生的超声波波长的1/6的间隔形成。
6.如权利要求1所述的用于测量超声波强度的设备,其特征在于,所述铝箔以由所述膜片产生的超声波波长的1/6的间隔隔开。
7.如权利要求1所述的用于测量超声波强度的设备,其特征在于,所述框架的水平截面面积相当于所述膜片的面积。
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