[发明专利]多层盘重放装置,和用于重放信息记录介质的装置无效
申请号: | 97114945.3 | 申请日: | 1997-05-15 |
公开(公告)号: | CN1175057A | 公开(公告)日: | 1998-03-04 |
发明(设计)人: | 竹谷智良;小林秀树 | 申请(专利权)人: | 先锋株式会社 |
主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张志醒,陈景峻 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多层 重放 装置 用于 信息 记录 介质 | ||
1、一种用于重放包括多个层的多层盘(20)的装置,每层具有一个其上记录记录的信息的信息记录表面,其特征在于所述装置包括:
读取设备(22),用于从每层读取记录信息;
重放处理设备(23,24到28,31到35,45到49),用于根据其中设置的并包括增益值和均衡器值中的至少一个值的重放处理参数将预定的重放处理应用到所述读取设备读取的记录信息,从而输出重放信息信号;
驱动设备(30),用于驱动所述读取设备从读取一层的一个读取状态跳跃到读取另一层的另一个读取状态;
存储器(42),用于存储对应于重放之前的各层的多个重放处理参数;和
设置装置(38,40),用于从所述存储器读取对应于作为所述读取设备跳跃终点的所述另一层的存储的重放处理参数中的一个参数,并在所述驱动设备驱动所述读取设备跳跃的情况下将读取的重放处理参数设置在所述重放处理设备。
2、根据权利要求1所述的装置,其特征在于所述存储器(42)存储重放处理参数,每个参数包括所述重放处理设备的聚焦伺服环路的增益值和所述重放处理设备(23,24到28,31到35,45到49)的跟踪伺服环路的增益值中的至少一个值。
3、一种用于重放包括多个层的多层盘(20)的装置,每层具有一个其上记录记录的信息的信息记录表面,其特征在于所述装置包括:
读取设备(22),它具有一物镜,用于从每层经所述物镜光学读取记录信息;
重放处理设备(23,24到28,31到35,45到49),用于根据设置在其中的,聚焦伺服环路的增益值和均衡器值,以及除聚焦伺服环路之外的另一个伺服环路的增益值和均衡器值中的至少一个将预定的重放处理应用到所述读取设备读取的记录信息,从而输出对应于重放信息信号的重放信息信号和聚焦误差信号;
驱动设备(30),用于沿所述物镜的聚焦方向驱动所述读取设备来移动所述物镜;
第一测量装置(40),用于根据每层的聚焦误差信号测量每层的聚焦伺服环路的增益值和均衡器值中的至少一个值;
第二测量装置(40),用于根据所述一层的反射因数测量一层的所述另一伺服环路的增益值和均衡值中的至少一个值;
存储器(42),用于存储所述第一和第二测量装置测量的测量增益值和均衡器值;
计算装置(40),用于计算所述一层的聚焦伺服环路的增益值和均衡器值中的至少一个值关于另一层的相应值的比率;和
设置装置(38,40),用于根据所述计算装置计算的比率将所述另一层的所述另一伺服环路的增益值和均衡器值设置到所述重放设备。
4、根据权利要求3所述的装置,其特征在于所述第一测量装置(40)在所述物镜向上或向下移动一次时从所述重放处理设备接收全部各层的聚焦误差信号,从而测量每一层的聚焦伺服环路的增益值和均衡器值中的至少一个值。
5、根据权利要求1所述的装置,其特征在于所述装置还包括检测装置(40),用于从所述读取设备(22)读取的记录信息检测每层的RF信号的最大幅值,
所述存储器(42)存储从所述检测装置检测的最大幅值获得的,RF信号的增益值和均衡器值中的至少一个值。
6、一种用于重放包括多个层的多层盘(20)的装置,每层具有一个其上记录记录的信息的信息记录表面,其特征在于所述装置包括:
读取设备(22),用于从每层读取记录信息;
检测装置(40),用于从所述读取设备读取的记录信息,检测每层的RF信号的最大幅值;
重放处理设备(23,24到28,31到35,45到49),用于根据存储其中的并包括增益值和均衡器值中的至少一个值的重放处理参数,将预定的重放处理应用到所述读取设备读取的记录信息,从而输出重放信息信号;
存储器(42),用于存储在重放之前的多个预定重放处理参数;和
选择装置(40),用于根据所述检测装置检测的最大幅值选择存储在所述存储器的预定重放处理参数的一个参数,并将选择的重放处理参数设置在所述重放处理设备中。
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