[发明专利]半导体存储装置无效

专利信息
申请号: 97121538.3 申请日: 1997-10-29
公开(公告)号: CN1190783A 公开(公告)日: 1998-08-19
发明(设计)人: 伊藤孝 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G11C11/34 分类号: G11C11/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 姜郛厚,叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,它备有:内部降压电路,响应降压激活信号的激活而被激活,用于将来自外部的电源电压降压并生成内部电源电压;电源接通检测电路,用于产生响应上述外部电源电压的接通而变为激活状态的电源接通检测信号;及控制装置,响应上述电源接通检测信号的激活而将上述降压激活信号保持在非激活状态。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于:备有将上述电源接通检测信号延迟规定时间并供给上述控制装置的延迟装置,上述控制装置包含响应上述延迟装置输出信号的非激活状态而将对上述降压激活信号的非激活状态的保持停止的装置。

3.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,其特征在于:上述控制装置备有:空操作周期检测装置,响应动作周期指示信号,检测使内部电路复位到初始状态的空操作周期被指示的情况;及响应来自上述空操作周期检测装置的空操作周期检测指示信号的激活,使将上述降压激活信号保持在非激活周期的动作停止的装置。

4.根据权利要求3所述的半导体存储装置,其特征在于:备有激活控制信号发生装置,用于根据上述动作周期指示信号产生将上述内部降压电路激活用的激活控制信号,上述控制装置中所备有的停止装置包含选通电路,用以响应上述空操作周期检测指示信号的激活并根据上述激活控制信号产生上述降压激活信号。

5.一种半导体存储装置,它备有;内部降压电路,响应降压激活信号的激活而被激活,用于将来自外部的电源电压降压并生成内部电源电压;内部动作激活信号发生装置,响应来自外部的动作周期规定信号,用于产生将上述降压激活信号激活用的内部动作激活信号;电源接通检测电路,用于产生响应上述外部电源电压的接通而变为激活状态的电源接通检测信号;空操作周期检测装置,响应上述电源接通检测信号及上述动作周期规定信号,检测使内部电路复位到初始状态用的空操作周期被指示的情况,并产生在该检出时激活的空操作周期检测信号;及控制装置,用于接受上述空操作周期检测信号,在上述空操作周期检测信号被激活前根据上述内部动作激活信号停止上述降压激活信号的产生,并将上述降压激活信号保持在非激活状态。

6.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其特征在于:还备有用于将上述电源接通检测信号延迟规定时间的延迟电路,上述控制装置包含响应上述延迟电路的输出信号的激活状态和上述空操作周期检测信号的非激活状态并根据上述内部动作激活信号进行使降压激活信号的产生停止及将上述降压激活信号保持在非激活状态的动作的装置。

7.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其特征在于:上述控制装置包含响应上述电源接通检测信号的激活状态及空操作周期检测信号的非激活状态并根据上述内部动作激活信号进行使降压激活信号的产生停止及将上述降压激活信号保持在非激活状态的动作的装置。

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