[发明专利]袖珍光学拾取系统无效

专利信息
申请号: 97122590.7 申请日: 1997-09-30
公开(公告)号: CN1181537A 公开(公告)日: 1998-05-13
发明(设计)人: 崔良吾 申请(专利权)人: 大宇电子株式会社
主分类号: G06F7/12 分类号: G06F7/12
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 刘兴鹏
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 袖珍 光学 拾取 系统
【权利要求书】:

1.一种用于读出储存在有记录面的光盘上的信息信号的光学拾取系统,系统包括:

产生包括P偏振和S偏振分量的光束的装置;

一个1/4λ波片用于改变穿过其的光束偏振成份;

从光盘的记录表面检测信息信号的装置,

光学装置,设有第一和第二表面,第一表面能够将偏振分量的一种经1/4λ波片反射向光盘并透射另一种分量,还透射从光盘反射的光束,光束的偏振成份经过1/4λ波片射回并射向第二表面被转变成另一种偏振分量,而第二表面能够将入射其上的光束反射到检测装置,由此使得光学拾取系统能够从记录表面读取信息信号。

2.如权利要求1所述的光学拾取系统,其特征在于还包括一个将光束聚焦到光盘记录面上并把从记录面反射的光束会聚到检测器上的物镜。

3.如权利要求2所述的光学拾取系统,其特征在于1/4λ波片设置在光学装置和物镜之间。

4.如权利要求3所述的光学拾取系统,其特征在于物镜设置在1/4λ波片和光盘之间。

5.如权利要求2所述的光学拾取系统,其特征在于光学装置的第一表面以与光轴成一预定角倾斜的方式布置,而光轴由连接物镜的中心点和物镜的焦点的连线构成。

6.如权利要求5所述的光学拾取系统,其特征在于预定角为45度。

7.如权利要求5所述的光学拾取系统,其特征在于第二表面与第一表面相隔一预定的距离,由此使穿过光学装置的光束产生象散。

8.如权利要求5所述的光学拾取系统,其特征在于产生装置放置的位置使得从其发出的光束被物镜聚焦在沿光轴的一点处,其中光束沿连接产生装置和光轴交点的第一连线与光学装置的第一表面准直。

9.如权利要求8所述的光学拾取系统,其特征在于检测装置放置在从光学装置第二表面反射的光束的焦点处,而光束在被从光盘反射之后由物镜聚焦,检测装置还相对于连接检测装置的中心和光轴交点的第二连线与光学装置的第二表面垂直对准。

10.如权利要求1所述的光学拾取系统,其特征在于第二表面通过涂覆可反射入射到其上的光束的材料而形成。

11.如权利要求10所述的光学拾取系统,其特征在于从光盘反射的光入射到其上的第二表面,只有一部分被涂覆可反射入射到其上的光束的材料,使射在其余的部分的光束从那儿透射到光学拾取系统的外部,减小噪音。

12.如权利要求1所述的光学拾取系统,其特征在于菲涅尔透镜形成在第二表面的一处上,菲涅尔透镜可使穿过其的光束产生象散。

13.一种利用刀口读出储存在有记录面的光盘上的信息信号的光学拾取系统,系统包括:

产生包括P偏振和S偏振分量的光束的装置;

一个1/4波片用于改变穿过其的光束偏振成份;

从光盘检测信息信号的装置,

光学装置,设有第一和第二表面,第一表面能够将偏振分量的一种经过1/4λ波片反射向光盘并透射另一种偏振分量,还透射从光盘反射的光束,光束的偏振成份经过1/4λ波片射回并射向第二表面被转变成另一种偏振分量,而第二表面能够将入射其上的改变了偏振的光束反射到检测装置,由此使得第二表面充作一个刀口;和

一个将光束聚焦到光盘记录面上并把从记录面反射的光束会聚到检测器上的物镜。

14.如权利要求13所述的光学拾取系统,其特征在于第二表面包括一部分,该部分从第二表面被通过光轴和第二表面的交点的线所划分的两部分中选取,光轴由连接物镜的中点和焦点的连线构成。

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