[发明专利]抛光组合物无效

专利信息
申请号: 97126036.2 申请日: 1997-12-02
公开(公告)号: CN1185472A 公开(公告)日: 1998-06-24
发明(设计)人: 児玉一志;伊东真时;铃村聡 申请(专利权)人: 不二见株式会社
主分类号: C09G1/18 分类号: C09G1/18
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 白益华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 抛光 组合
【权利要求书】:

1.一种抛光铝、铜或钨膜的组合物,它包含水和选自二氧化硅,氧化铝,氧化铈,氮化硅和氧化锆的抛光剂,所述组合物还包含溶解在组合物中的铁(III)化合物,其中铁(III)化合物选自焦磷酸铁(III),柠檬酸铁(III),柠檬酸铁(III)铵,草酸铁(III)铵,硫酸铁(III)铵,高氯酸铁(III),氯化铁(III),硫酸铁(III)和磷酸铁(III)。

2.如权利要求1所述的抛光铝膜的抛光组合物,其中铁(III)化合物选自硫酸铁(III)铵,柠檬酸铁(III),柠檬酸铁(III)铵和草酸铁(III)铵。

3.如权利要求1所述的抛光铜或钨膜的抛光组合物,其中铁(III)化合物选自柠檬酸铁(III),柠檬酸铁(III)铵,草酸铁(III)铵,硫酸铁(III)铵,高氯酸铁(III),氯化铁(III)和硫酸铁(III)。

4.如权利要求1所述的抛光钨膜的抛光组合物,其中铁(III)化合物选自硫酸铁(III)铵和硫酸铁(III).

5.如权利要求1所述的抛光铜膜的抛光组合物,其中铁(III)化合物为柠檬酸铁(III)。

6.如权利要求1所述的抛光组合物,其中以组合物的总量计,抛光剂的量为0.1至50重量%,水的量为10至99.89重量%,而铁(III)化合物的量为0.01至40重量%。

7.如权利要求1所述的抛光组合物,其中由BET法测定的二氧化硅的平均颗粒尺寸为0.005至0.5μm,由BET法测定的氧化铝,氮化硅和氧化锆的平均颗粒尺寸各为0.01至10μm,而由扫描电子显微镜测得的氧化铈的平均颗粒尺寸为0.01至10μm。

8.如权利要求1所述的组合物的用途,它用作抛光铝、铜或钨膜的试剂。

9.一种抛光铝、铜或钨膜的方法,其中使用权利要求1所述的组合物作为抛光铝、铜或钨膜的试剂。

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