[发明专利]元件吸持头、元件装配装置及元件吸持方法无效

专利信息
申请号: 97181027.3 申请日: 1997-12-24
公开(公告)号: CN1241958A 公开(公告)日: 2000-01-19
发明(设计)人: 奥田修;壁下朗;仕田智;末木诚 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: B25J15/06 分类号: B25J15/06;B25J18/02;H05K13/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 黄永奎
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 元件 吸持头 装配 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种元件吸持头,在一端部具有元件吸持的吸嘴(8),具有沿该轴向驱动的旋转轴(13),在所述的旋转轴上,于所述的旋转轴的圆周面上固定磁铁(23),同时在所述旋转轴的周围设置线圈(22),构成使所述旋转轴沿其轴向驱动的音圈马达(21),通过控制对所述音圈马达的通电,控制向所述旋转轴的轴向移动。

2.根据权利要求1所述的元件吸持头,在所述旋转轴上还具有在所述旋转轴上设置的、检测向所述旋转轴的轴向移动的检测装置(28、29),根据该检测装置的检测结果,控制向所述音圈马达的所述旋转轴的轴向移动的移动量。

3.根据权利要求2所述的元件吸持头,所述检测装置具有被检测的组件(28)和传感器(29),其中所述的被检测的组件是延伸在所述旋转轴与同心轴上,并直接地装配在所述旋转轴的另一端部,在向所述旋转轴的轴向移动的同时,向所述的轴向移动的,而所述的传感器则是检测所述被检测组件移动的。

4.根据权利要求3所述的元件吸持头,所述被检测装置的所述被检测组件是磁尺,在与所述磁尺非接触的状态下,设置透射传感器(30),通过该透射传感器检测磁尺(28)的前端有无遮光,检测所述旋转轴移动的原点位置。

5.根据权利要求2所述的元件吸持头,所述检测装置具有传感器(18)和被检测的组件(20),其中所述的传感器是在所述旋转轴向其圆周方向驱动时防止同所述旋转轴一起转动,通过轴承(17)直接设置在所述旋转轴的另一端部,并在向所述旋转轴的轴向移动的同时,向所述轴向移动的,而所述的被检测组件则是在沿所述旋转轴的轴向平行延伸并利用所述传感器检测的。

6.一种元件装配装置,具有权利要求1至5的任一项权利要求所述的元件吸持头并进行所述元件的装配。

7.根据权利要求6所述的元件装配装置,还具有在所述旋转轴上设置的、检测向所述旋转轴的轴向移动的检测装置,同时还具有根据所述检测装置的检测结果来控制向所述音圈马达的所述旋转轴的轴向移动量的控制装置(11)。

8.根据权利要求6或7所述的元件装配装置,对于所述音圈马达的箱体(21a)可移动式地设置所述旋转轴,在所述箱体上装配所述吸嘴用的吸引配管(25、26),同时贯通所述旋转轴并使与所述吸嘴连通的贯通孔(27)的开口部分(27a)在所述箱体内开口,在所述箱体内使所述配管与所述贯通孔的开口连通。

9.一种元件吸持方法,是使用在一端部具有吸持元件的吸嘴(8),并具有沿其轴向驱动的旋转轴(13)的元件吸持头,使用在所述旋转轴上,于所述旋转轴的圆周面上固定磁铁(23),同时在所述旋转轴的周围设置线圈(22),构成了使所述旋转轴沿其轴向驱动的音圈马达(21)的元件吸持头,来实行元件吸持方法,使用在所述旋转轴上设置的检测装置(28、29)检测向所述音圈马达的所述旋转轴的轴向移动;根据所述检测装置的检测结果,控制对所述音圈马达的通电,以控制向所述旋转轴的轴向的移动量来吸持所述元件。

10.根据权利要求9所述的元件吸持方法,所述检测装置的所述被检测组件是磁尺,在与所述磁尺非接触的状态下设置透射传感器(30),通过该透射传感器来检测磁尺(28)的前端有无遮光,检测所述旋转轴移动的原点位置。

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