[发明专利]集成电路卡读写器及其控制方法无效

专利信息
申请号: 97190684.X 申请日: 1997-06-09
公开(公告)号: CN1100306C 公开(公告)日: 2003-01-29
发明(设计)人: 太田通博;吉田裕昭;大熊喜之 申请(专利权)人: 日本功勒克斯股份有限公司;NTT数据通信株式会社
主分类号: G06K17/00 分类号: G06K17/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 黄永奎
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 集成 路卡 读写 及其 控制 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及集成电路卡读写器,即对装载有集成电路的IC(集成电路)卡的数据实施读出和写入,尤其涉及在读出和写入IC卡数据时,能准确地对与装载在IC卡上的集成电路相接触的接触部的接触错误实施检测,从而提高可靠性的IC卡读写器及其控制方法。

背景技术

最近,作为银行卡等各种卡,人们提出了装载有集成电路的IC卡。与已有的磁卡等相比,这种IC卡尤其能存储大量的信息,所以具有其使用形式可大幅地扩大的优点。

但是,在对IC卡的数据实施读出、写入的IC卡读写器中,当对装载在IC卡上的集成电路进行数据读出和写入时,由于是通过与集成电路端子相接触的接触部而进行的,所以有在该接触部产生接触不良,即接触错误之虞。

因此,在已有的IC卡读写器中,为了判断接触部与集成电路的端子是否正确接触,要进行如下判断,即当IC卡读写器的接触部处于与IC卡的集成电路端子相接触的状态时,IC卡读写器通过该接触部向IC卡的集成电路电源端子供给IC卡用的电源,同时通过该接触部向IC卡的集成电路时钟端子供给时钟信号,而且,在将IC卡的集成电路的复位端子置于高电平状态之后,则读取由IC卡集成电路的输入输出端子自动输出的数据,通过检查该数据与期待数据是否一致,来判定IC卡读写器的接触部是否与IC卡集成电路的端子正确接触着。

但是,当向所述的IC卡集成电路的时钟端子供给时钟信号,且置IC卡的集成电路的复位端子于高电平状态之后,通过检查由IC卡的集成电路输入输出端子自动输出的数据是否与所期待的数据相一致,从而判定IC卡读写器的接触部是否与IC卡集成电路的端子正确的接触,在这种已有的IC卡读写器中,比如,即使在IC卡集成电路的电源端子处产生接触不良,而向IC卡集成电路的其他端子供给的信号仍在IC卡集成电路的内部回转,作为电源发挥作用。这种情况下,尽管IC卡读写器的接触部没有正确地与IC卡集成电路的端子接触,仍能从IC卡集成电路的输入输出端子输出与期待的数据相一致的数据,这样就会出现作出IC卡读写器的接触部与IC卡集成电路的端子正确接触的错误检测结果的问题。

这种情况下,为了从IC卡集成电路的输入输出端子读出数据,也许能提供充足的电源,但是为了从IC卡集成电路的输入输出端子写入数据,其电源供给是不充足的,而且若以此状态从IC卡集成电路的输入输出端子实施数据写入处理,则往往要产生写入错误。

一般情况下,一旦产生这种写入错误,往往IC卡集成电路内存储着的秘密信息便被破坏,这时,便出现该IC卡以后不能再使用的问题。

发明内容

因此,本发明的目的在于,提供一种可对与装载在IC卡的集成电路相接触的接触部的接触错误进行准确检测,并能在IC卡的写入错误发生前作出适当处理的IC卡读写器及其控制方法。

为实现上述目的,本发明的IC卡读写器具有与装载于IC卡的集成电路端子相接触的接触部,并通过该接触部对所述集成电路的数据的读出和写入;所述读写装置具有接触错误检测装置,将通过所述接触部向所述集成电路的复位端子供给的复位信号控制在低电平状态,同时将通过所述接触部向所述集成电路的时钟端子供给的所述集成电路用的时钟信号控制在低电平状态,然后通过所述接触部向所述集成电路的电源端子供给所述集成电路用的电源,这时,在通过所述接触部,由所述集成电路的输入输出端子输出的电压小于所设定的基准电压时,则作为所述接触部的接触错误而检测出。

这里,所述接触错误检测装置,其构成如下:在向所述集成电路的电源端子供给所述集成电路用的电源后,在至所述集成电路的复位正常结束所设定时间,向所述集成电路的时钟端子供给时钟信号,此后,再次将所述时钟信号控制在低电平状态。

此外,所述IC卡读写器具有产生所述集成电路用的时钟信号的集成电路用时钟发生装置,以及产生所述集成电路电源的集成电路用电源装置。

所述接触错误检测装置,其构成如下:将通过所述接触部向所述集成电路的复位端子供给的复位信号控制在低电平的第一控制装置;通过控制所述集成电路用的时钟信号发生装置,将通过所述接触部向所述集成电路时钟端子供给的所述集成电路用的时钟信号控制在低电平的第二控制装置;通过控制所述集成电路用电源装置、经过所述接触部向所述集成电路的电源端子供给所述集成电路用的电源的第三控制装置;以及将通过所述接触部从所述集成电路输入输出端子输出的电压与所设定的基准电压进行比较的比较装置。

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