[发明专利]具有一种贵金属层的半导体装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 97196961.2 申请日: 1997-09-11
公开(公告)号: CN1226999A 公开(公告)日: 1999-08-25
发明(设计)人: F·欣特麦尔;G·欣德勒;W·哈特纳;C·马组雷-埃斯佩乔 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: H01L21/3205 分类号: H01L21/3205
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,王忠忠
地址: 联邦德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 一种 贵金属 半导体 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.用于制造一个半导体装置的方法,该装置具有一个衬底(3)和一个由贵金属,特别是铂系金属构成的层(6),在衬底与贵金属层之间是一个氮化硅层或者衬底本身是由氮化硅层构成的,当层(6)是由贵金属,特别是由铂系金属通过溅射构成时,其特征为,当溅射时在作为阴极(2)的衬底和在一定距离上安置的阳极(5)之间被加上一个由100V至1000V的衬底偏压。

2.依照权利要求1的方法,其特征为,被加上的衬底偏压约为250V。

3.依照权利要求1或2的方法,其特征为,当溅射时在压力为0.5至1.0Pa的氩气氛中作用一个约为300W的高频功率。

4.依照权利要求1至3之一的方法,其特征为,在贵金属层(6)上涂上一层电介质(7)。

5.依照权利要求4的方法,其特征为,(Ba,Sr)TiO3、SrBi2Ta2O9或SrBi2(Ta,Nb)2O9或绝缘橡胶或铁电层被用作为电介质(7)。

6.依照权利要求1至5之一的方法,其特征为,Ru、Os、Rh、Ir、Pd或Pt被用作为铂系金属。

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