[实用新型]光电测量轴转距和转速的装置

说明书

本实用新型涉及光电测量轴转距和转速的装置

目前使用转动光电检测装置，为一轴上带动一个园盘，通过园盘上开孔或粘贴黑白分明条带，达到光通过开孔或光通过白条投射到光电检波器上，以达到检测目的，而盘上开孔个数或黑白条数采决定测量精度。这种装置体积大，测量精度受到园盘大小限制。

本实用新型是这样实现的(见图1、图2)，包括箱体(1)，发光元件(2)。输入轴(3)，光电检波器(4)、光电信号处理装置(5)、缝隙板或粘贴于光电检波器(4)表面的缝隙层(6)等组成。发光元件(2)安装在输入轴(3)的一方，缝隙板或缝隙层(6)安装在输入轴(3)的另一方；并且在输入轴(3)和光电检波器(4)之间。要求发光元件(2)的光源、输入轴(3)缝隙板或缝隙层(6)的缝隙条，光电检波器的光感源，保持它们的中心线在同一个平面上。

发光元件(2)可为一个发光二极管或一个邻接的发光二极管阵列或其它发光体。发光元件(2)所发光的强度和宽度，要求比输入轴(3)不透光线条宽度更宽，其强度和宽度以便使光电检波器(4)有足够的感光为宜。输入轴(3)采用透光材料制成，表面涂上不透光的条带或在轴中接近表面处嵌入不透光的条带，输入轴(3)上条带形状，可为不透光的斜线条(见图3)、或不透光的相错的直线条(见图4)。相错个数与光电检波器(4)中受发光体个数相等。光电检波器(4)可为一个光电晶体管，或一个邻接的光电晶体管阵列或另一个电荷耦合器件(CCD)或其它光敏元件，光电检波器感光体对准缝隙板或缝隙层(6)的缝隙中心，感光阵列沿缝隙方向(CD)排列，如果采用图4的不透光条纹，那么阵列元件受光体应对应不透光相错条纹。缝隙板或缝隙层(6)采用不透光材料制成，中心缝隙为透光材料或开孔。缝隙宽度(图2中H)应小于输入轴(3)不透光线条宽度。其宽度以使不透光线条遮挡足够的光透过缝隙为宜。光电信号处理装置(5)是处理光电检波器(4)输入的电信号。

光电测量轴转距和轴转速检测方式如下，可通过输入轴(3)一端与被测轴相连接或输入轴(3)表面与被测轴轮表面接触，连动输入轴(3)转动。当输入轴(3)转动，输入轴(3)上不透光线条遮挡缝隙板或缝隙层(6)使得光电检波器(4)的各个感光体接受断续相间的光，形成相间不同相位的光电信号，通过光电信号处理装置(5)计算并可测出被测轴的转距和转速。

附图说明：

图1-光电测量轴转距和转速的装置主视图

图2-光电测量轴转距和转速的装置的A-A剖视图

图3-输入轴(3)表面展开图

图4-输入轴(3)表面展开图