[实用新型]单灯管型反射-透射式平台型影像扫描装置无效

专利信息
申请号: 97209833.X 申请日: 1997-03-03
公开(公告)号: CN2280391Y 公开(公告)日: 1998-04-29
发明(设计)人: 蔡振财 申请(专利权)人: 鸿友科技股份有限公司
主分类号: H04N1/04 分类号: H04N1/04
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 杨梧
地址: 台湾省新*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 灯管 反射 透射 平台 影像 扫描 装置
【说明书】:

实用新型涉及一种单灯管型反射-透射式平台型影像扫描装置,特别是涉及一种利用同一组光源进行反射稿及穿透稿扫描且所有的光学构件都为固定式的平台型影像扫描装置。

现有平台型影像扫描装置一般专用于扫描反射稿,也有少数用于扫描穿透稿,但如果要使一个扫描装置同时具有扫描反射稿与穿透稿的功能,则需加装一转换器,这种转换器的组件多且成本高。

针对这种缺点,在台湾申请第279528号(公告日期为1996年6月26日)中公开一种平台型影像扫描装置,其不需加装转换器即具有扫描反射稿与穿透稿功能。图1示出其光学机构配置,其中图1a为扫描反射稿时配置,图1b为扫描穿透稿时配置。

在图1a中,光源11启动,光源13熄灭。光源11所射出光线照到欲扫描反射稿10后反射至反射镜15,被反射镜15反射的光源再经反射镜12及14反射至聚焦元件16,经过聚焦元件16的光线被影像摄取元件18所接收,完成影像资料的摄取。

若要扫描穿透稿20,将图1a中的影像反射元件17切换成如图1b所示的位置,且让光源11熄灭,光源13启动,这样由光源13所射出的光线穿透要扫描的穿透稿20后射至反射镜19,被反射镜19反射的光线再依序经影像反射元件17、反射镜12及14反射至聚焦元件16,经过聚焦元件16的光线被影像摄取元件18所接收,完成影像资料的摄取。须注意,这种光学机构的配置满足扫描反射稿与穿透稿两种情况下的光学路径的长度完全相等。

此外,在台湾申请第280479号(公告日期为1996年7月1日)中公开另一可在不加装转换器的情况下,具有扫描反射稿及穿透稿两种功能的光学机构的配置。如图2所示,其中影像反射元件35可以旋转。当扫描反射稿10时,光源31启动,光源32熄灭,将影像反射元件35切换至图中假想线所示的位置,光源31所射出的光线照到要扫描反射稿10后反射至反射镜33,被反射镜33反射的光线再经反射镜34及影像反射元件35反射至聚焦元件16,经过聚焦元件16的光线被影像摄取元件18所接收,完成影像资料的摄取。

当要扫描穿透稿20时,将影像反射元件35转动成图中实线所示位置,且光源31熄灭,光源32启动,这样由光源32所射出的光线穿透欲扫描穿透稿20后射至反射镜37,被反射镜37反射的光线再依序经反射镜36及影像反射元件35反射至聚焦元件16,经过聚焦元件16的光线被影像摄取元件18所接收,完成影像资料的摄取。

上述两种现有技术虽然可在不加转换器的情况下,具有扫描反射稿及穿透稿两种功能,但其缺点在于必须转动光学机构中一部分元件(图1中的17与图2中的35),以在扫描穿透稿与反射稿两种模式之间切换,而采用转动方式来切换位置很容易出现误差,只要有一点点误差即可能对输出影像分辨率造成极大的影响,尤其随使用次数增加,误差将更严重,会影响影像质量。同时由于使用两组扫描光源,会增加机台体积。

本实用新型的目的在于提供一种使用同一组扫描光源,共用同样反射光学元件,其所有光学构件均保持固定,能扫描反射稿及穿透稿且可得到较好质量的影像的平台型影像扫描装置。

本实用新型的目的是这样实现的,即提供一种单灯管型反射-透射式平台型影像扫描装置,它包括:一供反射式影像与穿透式影像扫描用的光源;一将入射光一部分反射出去,另一部分透射出去的分光器;一将反射式影像反射至所述分光器的第一反射镜组;一将穿透式影像反射至所述分光器的第二反射镜组;一将来自该分光器的光线聚焦的聚焦元件;一摄取经过所述聚焦元件聚焦的光线的影像摄取元件;一根据使用者指令移动,并选择遮蔽来自第一反射镜组光线或来自第二反射镜组光线的遮蔽罩。

本实用新型装置的优点在于,其扫描反射稿及穿透稿共用一组扫描光源,减少机台体积及零件组装成本,且其不需移动任何光学构件,只需移动一遮蔽光迹的遮蔽罩,可避免现有技术中因影像反射装置切换造成的精度误差,能获得较高精度及影像质量。

以下结合附图,描述本实用新型的实施例,其中:

图1a为一现有的平台型影像扫描装置扫描反射稿影像时光学机构中各元件状态;

图1b为现有平台型影像扫描装置扫描穿透稿时光学机构中各元件状态;

图2为另一现有平台型影像扫描装置扫描反射稿或穿透稿时光学机构中各元件状态;

图3为一平台型影像扫描装置的立体分解图;

图4a为本实用新型平台型影像扫描装置反射影像扫描时光学机构中各元件的状态;

图4b为图4a中穿透扫描时光学机构中各元件的状态。

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