[实用新型]单片机控制综合参数测试仪

说明书

本发明涉及一种计算机控制综合参数测试仪，尤其是可同时接受传感器输出的电压、电流、电阻或脉冲信号的计算机控制综合参数测试仪。

至今已公开的计算机控制综合参数测试仪分工业控制机控制和单片机控制两类，前者抗干扰能力强，但结构复杂，成本高；后者抗干扰能力差，容易死机，显示电路复杂；而且两类综合参数测试仪的测量精度都较低，不能高于传感器的精度。

中国专利ZL94247002.8公开了一种多功能单点智能数显温度表，这种温度表对传感器信号采用冷端温度软件补偿法，即通过在单片机内部进行查表运算来实现冷端补偿。这种方法的缺点是所用的数据太多，并且精度无法估算。

本发明的任务是提供一种单片机控制综合参数测试仪，它能提高测试精度和抗干扰能力，并能简化显示电路。

为了解决上述任务，本发明的解决方案是：

A、单片机中的CPU，对传感器信号y_i与单片机A/D读数x_i的关系符合离散函数y_i＝f(x_i)(x_i互不相同，i＝0，1，…，m)的传感器系统，给定一个多项式P_m(x)，使在已知结点x_i满足y_i＝P_m(x_i)，面对区间[x₀，x_m]中其余各点，传感器信号连续函数f(x)与多项式连续函数P_m(x)间，使测量误差|f(x)-P_m(x)|符合精度0.1％的要求；

B、在单片机监视定时器开通的前提下，将单片机的输出管脚P_1.0～P_1.5和P_1.7与整个仪器内需复位的芯片的RST端相连接，当单片机重新启动时，CPU使这些输出管脚产生高电平——延迟——低电平，模拟复位脉冲，使整机复位；

C、光电隔离电路输出端即单片机的A/D输入端与模拟地之间并有电容器C；

D、显示电路带有一个并入串出移位寄存器和一组n个级联的串入并出移位寄存器，2n个译码器和2n个数显管，每一次并行数据输入经并入串出移位寄存器转换成串行数据后，串入并出移位寄存器的第1级接收这组串行数据并锁存以供给译码器，同时将原来锁存的数据推入串入并出移位寄存器的后一级。

采取了上述技术方案，由于单片机中的CPU能给定一个多项式P_m(x)代替被测函数f(x)，可以采用精度等级较低的非线性传感器而得到精度较高的测量结果，也降低了对其它线性元件的等级要求；由于采用整机复位的方法，可以做到永不死机；由于光电隔离电路输出端即单片机A/D输入端与模拟地之间并有电容器C，可使单片机内A/D工作正常，提高了抗干扰能力；由于采用了串并行移位寄存器相结合的显示电路，元件节省，安装调试及扩充电路都十分方便。

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步的说明。

图1是本发明具体实施例整机电路原理框图。

图2是图1所示实施例显示电路原理图。