[发明专利]一种径迹蚀刻膜防伪标志及其制造方法无效

专利信息
申请号: 98100453.9 申请日: 1998-02-27
公开(公告)号: CN1201214A 公开(公告)日: 1998-12-09
发明(设计)人: 梁立军 申请(专利权)人: 清华紫光(集团)总公司
主分类号: G09F3/02 分类号: G09F3/02
代理公司: 清华大学专利事务所 代理人: 廖元秋
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 径迹 蚀刻 防伪 标志 及其 制造 方法
【说明书】:

发明属径迹蚀刻膜应用技术领域,特别是涉及利用径迹蚀刻膜与普通商标或标志结合在一起的防伪标志及其制造方法。

在商品经济发展过程中,一些不法分子为了牟取暴利,大肆生产销售假冒伪劣产品,扰乱市场秩序,侵犯名牌产品生产者和消费者的利益。许多企业为了防假、打假,纷纷采取各种防伪措施。但现有的防伪产品如激光全息标志、热敏防伪标志、荧光反射标志等均存在防伪不彻底、消费者不易识别的缺点。例如荧光反射防伪标志在签别其真伪时,消费者需配备紫外灯等设备。以上缺点,影响了这些防伪产品的推广和应用。

本发明的目的是为克服已有技术的不足之处,提供一种利用径迹蚀刻膜与普通商标或标志结合在一起的防伪标志及其制造方法,使其具有既不容易被仿制,又容易被消费者鉴别,而且制造简单、价格低廉但又易于控制,适于推广使用的特点。

本发明设计的径迹蚀刻膜防伪标志,其特征在于由一普通商标或标志与覆着其上的一层径迹蚀刻膜组成。本发明的制造方法为将尺寸相同的一径迹蚀刻膜覆盖在一商标或标志表面,再将该径迹蚀刻膜的四周与标志的四周粘接在一起。径迹蚀刻膜的膜材料可为用原子反应堆或大型加速器生产出的微孔薄膜,其膜材料可为聚丙烯、聚酯和聚碳酸酯中之一种。粘接方法可为热封或胶粘。粘接后,可再在该标志背后涂一层不干胶。

本发明的原理是:径迹蚀刻膜是利用原子反应堆或重离子加速器生产出的一种带微孔的高分子塑料薄膜,其开孔率为104~108/厘米2,厚度为5~30微米,有良好的透气透水性。由于光线在膜的孔壁上发生了反射和折射,因而呈不透明或半透明的乳白色。当把这种膜和一个普通标志沿其边沿热封或胶粘在一起,而标志中间的图案或文字部分只是与膜接触。消费者只需在这种商标的乳白色薄膜上涂少量水,水立刻会透过薄膜在膜与标志之间形成一含水层,并使标志上的图案、文字和颜色清晰地显示出来。水干后,标志又恢复原状。

本发明用这种薄膜制成的商标或标志很容易被消费者识别。而且,由于生产径迹蚀刻膜所需的原子反应堆或加速器等大型设备,均由少数国家重点单位所拥有。因此利用径迹蚀刻膜制作防伪标志的行为将容易得到控制和管理,不法分子也就很难再伪造,即使有人伪造也很容易查到出处。另外,用这种方法制造的标志,其真伪鉴别比一般防伪标志简单,易被厂家接受。因此具有推广使用的良好前景。

附图简要说明:

图1为本发明所述防伪标志的实施例。

图2为本实施例的截面结构示意图。

本发明的防伪标志及其制造方法的一种实施例,结合图1-2详细说明如下:

本实施例为一带有一五星图案的防伪标志,如图1~2所示。图中,1是带有五星图案的普通标志,其上表面覆盖一层径迹蚀刻膜3,该膜与标志的四周涂有一层环氧树脂胶2,标志1下表面涂有一层不干胶4。

该防伪标志的制造方法包括下列各步骤:

(1)取一片开孔率为104~108/厘米2,厚度为5~30微米的径迹蚀刻膜和一带有五星图案的普通标志,将膜裁成与该标志大小一样的形状。

(2)将膜覆盖在标志上并对齐,沿其边缘进行热封或胶粘,封边宽度为1~3mm,以不影响标志图案为宜。在此过程中尽可能使膜与标志平整地接触,并禁止对封边内图案区域进行热封或胶粘,只使该区域内的膜与标志平整地贴在一起。

(3)将标志的背面一侧涂上不干胶即可。

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