[发明专利]检测存储器装置的方法无效
| 申请号： | 98102863.2 | 申请日： | 1998-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN1218961A | 公开（公告）日： | 1999-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张昌武 | 申请（专利权）人： | ECTS公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中科专利代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 存储器 装置 方法 | ||
【权利要求书】：
1．一种检测存储器装置的方法，该存储器装置被安排成行与列的形式，其特征在于，该方法包含下列步骤：
a)分割该存储器装置成复数个存储器容量较其为小的区块；
b)从该复数个区块中选取一第一区块；
c)对该第一区块使用一种检测图案来实施检测；
d)该第一区块每一位填写成相同的值，而其它每一区块的每一位填写成该值的补数；及
e)将该区块行走该整个存储器装置的其它每一区块，以检测该存储器装置。
2．如权利要求1所述的检测存储器装置的方法，其特征在于，其中步骤(d)的该相同的值为‘1’。
3．如权利要求1所述的检测存储器装置的方法，其特征在于，其中步骤(d)的该相同的值为‘0’。
4．如权利要求1所述的检测存储器装置的方法，其特征在于，其中该存储器装置的容量大小为N位，且步骤(c)的检测图案为一型态图案。
5．如权利要求1所述的检测存储器装置的方法，其特征在于，其中该存储器装置的容量大小为N位，且步骤(a)更包含一个步骤：
选取近似於N**(1/5)的一个整数值m作为最佳化的区块数。
6．如权利要求1所述的检测存储器装置的方法，其特征在于，其中步骤(a)的该复数个区块的数目为2的乘幕。
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