[发明专利]被扫描物物理参数的检测方法与装置无效
申请号: | 98103924.3 | 申请日: | 1998-01-06 |
公开(公告)号: | CN1097802C | 公开(公告)日: | 2003-01-01 |
发明(设计)人: | 李凤生 | 申请(专利权)人: | 鸿友科技股份有限公司 |
主分类号: | G06K9/20 | 分类号: | G06K9/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 杨梧 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描 物理 参数 检测 方法 装置 | ||
发明领域
本发明涉及一种被扫描物物理参数的检测方法与装置,特别是涉及一种可自动检测被扫描物的宽度边长与长度边长的被扫描物物理参数的检测方法与装置。
背景技术
目前市场上的图像扫描器,当其搜寻一被扫描物的起始位置及左右位置时,都以文件对齐处(Adjustable tray)为内定已知位置,用以计算起始位置和左右位置,然而,这种现有技术存在下述缺陷:
1.在将图像扫描器组装在机器中时,会造成结构上的误差,因而使得图像扫描器在检测被扫描物的位置时,准确度低;
2.当测得被扫描位置之后,电荷耦合器件(CCD)在调整左右位置时,会造成调整上的误差,并且调整时间很长。
发明概述
本发明的一个目的在于提供一种被扫描物物理参数的检测方法,其可自动检测被扫描物的宽度边界及长度边界,从而获得被扫描物图像边界低失真的扫描图像。
本发明的另一个目的在于提供一种被扫描物理参数的检测装置,其可自动测得被扫描物的宽度边界及长度边界,从而获得被扫描物图像边界低失真的扫描图像。
为实现上述目的,本发明一方面提供一种被扫描物物理参数的检测方法,其用以检测一被扫描物的一物理参数,该物理参数包括被扫描物的长度边长或宽度边长,其中该检测方法的步骤包括:a)提供一初始光学信号;b)接收该初始光学信号,且对应于该初始光学信号产生一初始检测信号;c)接收该初始光学信号,且对应于该被扫描物的该物理参数,以产生一复合检测信号;以及d)将该初始检测信号与该复合检测信号进行运算处理,获得该被扫描物的该物理参数。
根据上述构想,其中在该步骤(a)中,提供该初始光学信号的动作由一光源实现。
根据上述构想,其中在该步骤(b)中,接收该初始光学信号的动作藉由一检测单元来实现,且该检测单元产生该初始检测信号。
根据上述构想,其中该检测单元为一色彩相间的一条纹状反光标志。
根据上述构想,其中该条纹状反光标志设置于一图像扫描装置上,且位于该初始光学信号的行进路径上。
根据上述构想,其中在该步骤(c)中,接收该初始光学信号的动作是藉由一检测单元与该被扫描物实现的,且该复合检测信号包括由该检测单元所产生的一第一检测信号与该被扫描物所产生的一被扫描物光学信号所组合而成。
根据上述构想,其中该物理参数为该被扫描物的一宽度边长。
根据上述构想,其中包括一固定单边,设置于一图像扫描装置上,使得该宽度边长的一第一宽度边界贴齐该固定单边,而使该宽度边长的一第二宽度边界与该检测单元相邻。
根据上述构想,其中该检测单元的一部分与该被扫描物重叠,且该被扫描物用以接收该初始光学信号,以产生该被扫描物光学信号,而该检测单元的另一部分用以接收该初始光学信号,以提供该第一检测信号。
根据上述构想,其中在该步骤(d)中,藉由将该第一检测信号与该被扫描物光学信号进行运算处理,获得该第一检测信号与该被扫描物光学信号的相邻点,以获得该被扫描物的该宽度边长。
根据上述构想,其中该物理参数为该被扫描物的一长度边长。
根据上述构想,其中该检测单元在该被扫描物处于一第一状态时,接收该初始光学信号,以产生该初始检测信号,而在该被扫描物处于一第二状态时,该被扫描物与该检测单元接收该初始光学信号,以产生该复合检测信号,并且在该被扫描物处于一第三状态时,该检测单元接收该初始光学信号,以产生该初始检测信号。
根据上述构想,其中该第一状态为该初始光学信号投射至该长度边长的一长度起始边界前的状态,且该第二状态为该初始光学信号投射至该被扫描物时的状态,而该第三状态为该初始光学信号投射至该长度边长的一长度结束边界后的状态。
根据上述构想,其中该第一状态为一图像扫描装置开始扫描该被扫描物前的状态,且该第二状态为该图像扫描装置扫描该被扫描物时的状态,而该第三状态为该图像扫描装置结束扫描该被扫描物后的状态。
根据上述构想,其中在该步骤(d)中,藉由将该初始检测信号与该复合检测信号进行运算处理,以获得该被扫描物的该长度起始边界与该长度结束边界。
根据上述构想,其中在该步骤(d)中,将该初始检测信号与该复合检测信号进行运算处理的动作是藉由一信号处理单元实现的。
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