[发明专利]运算放大器无效
申请号: | 98118852.4 | 申请日: | 1998-09-03 |
公开(公告)号: | CN1084964C | 公开(公告)日: | 2002-05-15 |
发明(设计)人: | 樱井克仁 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H03F3/45 | 分类号: | H03F3/45 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 运算放大器 | ||
1.一种运算放大器,包括:
一个同相输入信号端;
一个倒相输入信号端;
一个第一检测装置,用于检测所述同相输入信号端与所述倒相输入信号端之间的电压差;
一个第二检测装置,用于检测所述同相输入信号端和所述倒相输入信号端之间的电压差;
一个输出级,用于输出从所述第一检测装置产生的信号;以及
一个电流改变装置,用于响应于所述第二检测装置产生的一个输出信号而改变所述输出级的一个缓存器中的一个偏置电流。
2.根据权利要求1的运算放大器,其中,所述检测装置是一个差动放大器。
3.根据权利要求2的运算放大器,其中,作为所述检测装置的差动放大器提供有降低电导gm的装置。
4.根据权利要求1的运算放大器,其中,利用双极晶体管做为其组成部分。
5.根据权利要求1的运算放大器,其中,
利用MOS晶体管做为其组成部分。
6.根据权利要求1的运算放大器,其中:
从所述第一检测装置产生的所述输出信号,作为一个单端输出信号,驱动所述输出级;
所述第二检测装置由构成一个差动电路的两个晶体管组成,这些晶体管的基极通过所述同相输入信号端和所述倒相输入信号端而被施加有各自的输入信号;
所述两个晶体管每一个都具有作为一个负载的一个电流密勒电路;
所述电流密勒电路之一驱动构成了一个辅助SEPP电路的所述输出级的一个晶体管;
所述电流密勒电路中的另一个通过又一个电流密勒电路而驱动构成辅助SEPP电路的所述输出级的另一个晶体管。
7.根据权利要求6的运算放大器,其中,所述构成差动放大结构的两个晶体管的发射极相互连接短路;
所述发射极进一步通过一个恒定电流电路连接到一个参考电位点。
8.根据权利要求6的运算放大器,其中,
组成所述差动放大结构的所述两个晶体管的每个发射极通过每个电阻连接到一个恒定电流源,该恒定电流源进一步连接到一个参考电位点。
9.根据权利要求6的运算放大器,其中,组成差动放大结构的所述两个晶体管的每个发射极通过每个恒定电流电路连接到一个参考电位点;并且
所述发射极通过一个电阻进一步相互连接在一起。
10.根据权利要求6的运算放大器,其中,
由所述差动放大装置产生的输出信号做为一个单端输出信号驱动所述输出级;
所述检测装置由组成差动电路的两个晶体管构成,其栅极经同相输入信号端和反相输入信号端,被施加各输入信号;
所述两个晶体管中的每一个都承受每个电流密勒电路做为其负载;
所述电流密勒电路之一驱动构成辅助SEPP电路的所述输出级的一个晶体管;并且
上述电流密勒电路的另一个驱动经另一个电流密勒电路构成辅助SEPP型电路的上述输出级的另一个晶体管。
11.根据权利要求10的运算放大器,其中,
组成差动放大结构的所述两个晶体管的源极由短路线相互连接在一起;并且
进一步通过恒定电流电路连接到一个参考电位点。
12.根据权利要求10的运算放大器,其中,
组成差动放大结构的所述两个晶体管的每个源极通过每个电阻连接到一个恒定电流源,该恒定电流源进一步连接到一个参考电位点。
13.根据权利要求10的运算放大器,其中,
组成差动放大结构的所述两个晶体管的每个源极通过每个恒定电流电路连接到一个参考电位点;并且
所述源极通过一个电阻进一步相互连接到一起。
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