[发明专利]光盘存储介质质量测试方法及装置无效
申请号: | 98120038.9 | 申请日: | 1998-09-24 |
公开(公告)号: | CN1212423A | 公开(公告)日: | 1999-03-31 |
发明(设计)人: | 金大泳;吕运盛;金炯奎;裵桐淅 | 申请(专利权)人: | LG电子株式会社 |
主分类号: | G11B13/06 | 分类号: | G11B13/06 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余朦 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光盘 存储 介质 质量 测试 方法 装置 | ||
1.一种光盘质量测试方法,其特征在于包括:
从一个光盘中再生一个辅助信号,所述辅助信号对应于所述光盘的一个预格式化结构;及
根据所述辅助信号确定上述光盘的质量。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述确定步骤包括:
存储一个对应于所述光盘的预定容限范围;
将所述辅助信号与所述预定容限范围进行比较;及
根据所述比较结果判断所述光盘的质量;
3.权利要求1所述的方法,另外包括:
选择性地控制所述再生步骤从一组预格式化结构中的哪一个中再生所述辅助信号。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述确定步骤包括:
存储对应于一组不同光盘类型的预定容限范围;
从所述容限范围中选择对应于所述光盘的类型的其中一个;
将所述辅助信号与所选择的预定容限范围进行比较;及
根据所述比较结果判断所述光盘的质量;
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述确定步骤确定所述辅助信号的载波噪声比是否大于一个预定阈值,如果所述载波噪声比被确定为大于所述预定阈值,则产生一个优质信号。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述再生步骤包括:
跟踪所述预格式化结构的中心轴线;
根据所述跟踪将一个激光束照射到所述光盘上;
检测来自所述光盘的所述激光束的反射;及
根据所述检测产生所述辅助信号;
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述再生步骤包括:
跟踪所述预格式化结构的中心;
根据所述跟踪将一个激光束照射到所述光盘上;
检测从所述光盘反射的激光束;及
根据所述检测产生所述辅助信号;
8.一种用于测试光盘质量的装置,其特征在于包括:
用于从一个光盘中再生一个辅助信号的再生装置,所述辅助信号对应于所述光盘的一个预格式化结构;及
用于根据所述辅助信号确定所述光盘质量的确定装置。
9.如权利要求8所述的装置,其特征在于所述确定装置包括:
一个用于存储一个对应于所述光盘的预定容限范围的存储器;
一个用于将所述辅助信号及所述预定容限范围进行比较并根据所述比较的结果评价所述光盘质量的处理器。
10.如权利要求8所述的装置,另外包括:
一个选择性地控制所述再生装置从一组预格式化结构中的哪一个中再生所述辅助信号的控制器。
11.如权利要求8所述的装置,另外包括:
一个用于输出表明所述光盘类型的盘类型信号的控制器;其中
所述确定装置包括,
一个用于存储对应于一组不同类型光盘的预定容限范围,并根据所述盘类型信号输出所述预定容限范围中的一个的存储器;及
一个用于对所述辅助信号及所输出的预定容限范围进行比较并根据所述比较的结果判断所述光盘的所述质量的处理器。
12.如权利要求8所述的装置,其特征在于所述确定装置确定所述辅助信号的载波噪声比是否大于一个预定阈值,如果所述载波噪声比被确定为大于所述预定阈值,则产生一个优质信号。
13.如权利要求8所述的装置,其特征在于所述再生装置包括:
一个用一个激光束照射所述光盘及检测来自所述光盘的所述激光束的反射的光学拾取器;
用于控制所述光学拾取器以使所述激光束跟踪所述预格式化结构的一个中心轴线的跟踪控制装置;及
一个根据所检测到所述激光束的反射产生所述辅助信号的信号处理器。
14.如权利要求8所述的装置,其特征在于所述再生装置包括:
一光学拾取器,用于将激光束照射所述光盘,并检测从所述光盘上反射的所述激光束;
跟踪控制装置,用于控制所述光学拾取器的跟踪,以使所述激光束跟踪预格式化结构的中心;和
一信号处理器,其根据检测到的所述激光束的所述反射光来产生所述辅助信号。
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