[发明专利]测量光盘系统特性的装置和方法

说明书

本发明涉及测量拾光器或光盘特性的方法和装置。本发明包括光盘的记录和/或重放系统。

众所周知，已有用于光盘驱动器的拾光器特性检测装置。例如，拾光器特性检测装置用于拾光器等的发货检测(发货前拾光器特性的检测)或验收检测(验收前拾光器的检测)。检测拾光器是否满足预定规格。

图3表示已知拾光器特性检测装置的方框图。图3所示的拾光器特性检测装置100，包括如下：拾光器101，作为检测目标；测量架102，光盘设置于此；矩阵电路103，源于拾光器101具有的光检测器的输出供给矩阵电路103，并输出变换(RF)信号；伺服控制电路104，根据矩阵电路103的输出，伺服控制光盘的重放驱动器。

此外，拾光器特性检测装置100也有如下：测量电路105a-105n，它们的每一个根据矩阵电路103的输出，测量拾光器特性的不同值；多路调制器106，转换测量电路105a-105n的输出；模/数转换电路107，将已被每一检测电路105a-105n的内多路调制器106转换的电路输出转换成数字数据；以及计算机108，完成模/数转换电路107的输出数据的统计处理，并显示结果。

拾光器101是拾光器特性检测装置100的检测目标。例如，该拾光器101可装配在拾光器特性检测装置100上，并可自由地相连或移开。

拾光器101也有激光二极管、分束器、物镜、光检测器等。此外，拾光器101使激光二极管发出的激光经分束器、物镜等聚集在光盘上。然后，拾光器101让图象的反射光线在光检测器上。拾光器101具有的光检测器是光电转换元件；将形成图象的反射光线转换成电信号。

通常，拾光器101有多个光检测器：例如，有划分成十字型四分之一的光检测器；也有用于检测在划分成十字型四分之一的上述光检测器两侧上的侧光点的另一光检测器。此光检测器的输出供给矩阵电路103。

测量架102，光盘设置于此，为矫正光盘而转动和驱动光盘。此外，设置于测量架102的光盘用作拾光器特性检测装置100的基准。

矩阵电路103，源于所说的拾光器101具有的每个光检测器的输出供给矩阵电路103，并从此光检测器的输出产生变换(RF)信号、聚焦误差(FE)信号、和跟踪误差(TE)信号等。

例如，如果拾光器101具有的光检测器由划分成十字型四分之一的一个和用于侧光点的一个组成，矩阵电路103如下检测每个信号：矩阵电路103根据划分成四分之一的光检测器的输出处理每一输出的总量，然后输出处理结果作为RF信号。矩阵电路103处理作为十字型中心目标的两个(2)光检测器的输出总量，处理这些总量的差别，然后输出处理结果作为FE信号。因此，矩阵电路103通过利用象散性或象散方法，输出FE信号。此外，根据用于侧光点的光检测器的输出，矩阵电路103处理输出之间的差别，然后输出处理结果作为TE信号。

矩阵电路103提供上述处理得到的RF信号、FE信号、TE信号给伺服控制电路104和测量电路105a-105n。

伺服控制电路104根据RF信号、FE信号、TE信号，伺服控制光盘的重放驱动器。更具体地说，伺服控制电路104完成聚焦伺服控制、跟踪伺服控制、螺纹伺服控制、和倾斜伺服控制。

测量电路105a-105n运转拾光器101的特性值。每个测量电路105a-105n测量不同的特性值。因此，拾光器特性检测装置100装有与要测量的特性值数目相同的测量电路105a-105n。

此外，每一测量电路105a-105n通过模拟处理、峰值检测处理、和频率/电压转换处理，完成滤波处理，测量特性值。例如，第一测量电路105a根据FE信号测量聚焦伺服环的输入端区“S”形曲线的信号电平。例如第二测量电路105b根据TE信号测量TE信号的电平。例如第三测量电路105c根据RF信号测量RF信号的电平。最后，例如第四测量电路105d根据RF信号测量RF信号的抖动组分。

多路调制器106转换每一测量电路105a-105n的输出，然后将任一测量电路的输出供给模/数转换电路107。

模/数转换电路107将经多路调制器106提供的、每一测量电路105a-105n的输出转换成数字数据，然后供给计算机108。模/数转换电路107的转换速度慢，因为每一测量电路105a-105n的输出几乎是DC电平。例如，模/数转换电路107的转换速度约为1KHz。

计算机108完成模/数转换电路107供给的数字数据的统计处理，然后显示结果。