[发明专利]扫描影像的校正装置及方法无效
申请号: | 98124979.5 | 申请日: | 1998-11-27 |
公开(公告)号: | CN1259820A | 公开(公告)日: | 2000-07-12 |
发明(设计)人: | 林明昇 | 申请(专利权)人: | 大腾电子企业股份有限公司 |
主分类号: | H04N1/04 | 分类号: | H04N1/04 |
代理公司: | 隆天国际专利商标代理有限公司 | 代理人: | 左明坤 |
地址: | 台湾省台北县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描 影像 校正 装置 方法 | ||
本发明是有关于一种影像感应器,特别是有关于一种扫描影像的校正装置及方法,其可以软件方式预测并补入反常像素的数值,进而完成扫描影像的校正。
请参考图1、2、3,此为台湾专利公告299056号彩色接触式影像感测器组件的外观示意图、组装示意图及侧视示意图。
在这个例子中,彩色接触式影像感测器组件主要是由透明片10、柱状透镜列15、光源20、影像感测基板30及组件结构体40所组成。光源20具有光导体22、光导体基座24、发光二极管晶片组26及发光二极管晶片基座28。影像感测基板30上设置有基板32、影像感测晶片34及金属导线36。组件结构体40则由基座42及侧盖44所组成。另外,为增加光源20的强度及色彩丰富性,接触式影像感测器组件中亦可以增加发光二极管晶片的数目,或在光导体22的另一侧设置其他颜色的发光二极管晶片。
不过,这种接触型影像感应器本身十分灵敏,会因异物侵入(如沙粒)或部分工艺不良(如:壳体密封及组装过程之污染)而产生非线性关系的反常像素(影像点),造成黑线、白线、包线等现象并影响感应质量。企图以改善组装过程克服异物侵入之努力亦成效不大。故即便是仅有1个反常像素的接触型影像感应器,在目前的技术水准下,亦必须被视为劣质品而无法使用。
上述黑线、白线、包线等现象简单说明如下。在进行扫描动作时,由于接触型影像感测器会与欲扫描文件产生相对平移,因此整份文件便会在错误像素之位置持续发生错误、并在扫描得到的画面中产生一条明显的黑线或白线。
有鉴于此,本发明的主要目的便是提供一种扫描影像的校正装置及方法,其可以个别处理影像感应器中极少数反常像素的数值,藉以改善整体扫描影像的画面质量。
本发明的另一目的便是提供一种扫描影像的校正装置及方法,利用内插法预测并补入反常像素的数值,进而提高整体扫描影像的画面质量。
本发明的又一目的就是提供一种扫描影像的校正装置及方法,其可以软件方式实施。
本发明的再一目的就是提供一种扫描影像的校正装置及方法,其可以配合影像感应器在不同解析度的应用。
本发明的更一目的就是提供一种扫描影像的校正装置及方法,其可以增加仅具有极少数反常像素的影像感应器的可用性,藉以提高成品率并降低成本。
为达上述及其他目的,本发明乃提供一种扫描影像的校正装置,用以预测并补入反常像素的数值。由于接触型影像感应器(CIS)会因工艺不良或异物侵入而影响感应效果,进而造成黑线、白线、包线等问题。因此,本发明乃利用影像感应器、加总平均装置、比较装置及补点装置进行扫描影像的校正。其中,影像感应器具有若干像素,可读取欲扫描影像并得到各像素的对应数值;加总平均装置可加总平均各像素的对应数值以得到平均值;比较装置可比较上述像素的对应数值变化与上述平均值,并将其间差异过大者标示为反常像素;而补点装置则可用插点法预测并补入反常像素的数值,藉以校正欲扫描影像。
此外,本发明亦提供一种扫描影像的校正方法。此方法的步骤包括:(1)读取欲扫描影像,藉以得到影像感应器中各像素的对应数值;(2)加总平均各像素的对应数值,藉以得到平均值;(3)比较各像素的对应数值变化与上述平均值,并将其间差异过大者标示为反常像素;(4)以插点法预测并补入反常像素的数值,藉以校正欲扫描影像。
在这种扫描影像的校正方法中,当反常像素是由若干连续像素构成时,反常像素的数值可利用多次插点法预测并补入,藉以完成扫描影像的校正。
为让本发明的上述和其他目的、特徵、和优点能更明显易懂,特举较佳实施例,并结合附图,作详细说明如下:
图1为台湾专利公告第299056号的新型彩色接触式影像感测器组件的外观示意图;
图2为台湾专利公告第299056号的新型彩色接触式影像感测器组件的组装示意图;
图3为台湾专利公告第299056号的新型彩色接触式影像感测器组件的侧视示意图;
图4为本发明扫描影像校正方法的流程图;以及
图5为本发明扫描影像校正装置的电路框图。
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