[发明专利]使用频谱分析仪的测量方法无效

专利信息
申请号: 98125874.3 申请日: 1998-10-27
公开(公告)号: CN1226006A 公开(公告)日: 1999-08-18
发明(设计)人: 新井通明;小管尚 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R23/00 分类号: G01R23/00
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 马莹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 使用 频谱 分析 测量方法
【说明书】:

发明涉及一种使用频谱分析仪的测量方法,更详细地说,涉及一种用来设置频谱分析仪输入电平(参考电平)的方法、一种用来测量输入信号的载波功率的方法和一种用来测量到相邻信道的乱真(spurious)功率或泄漏功率的方法。

在一种常规的使用频谱分析仪的测量方法中,需要设置输入电平,即频谱分析仪的参考电平,从而可执行适当的测量。对于这种设置,该频谱分析仪被保持在一种扫描状态,并且在输入级中调整可变衰减器,来观察在显示器上所显示的测量电平,以将二次谐波维持在不变状态。即,通过这种调整操作,由第一级变频装置所产生的二次失真可被忽略,并且在第一级变频装置中的输入信号维持在不失真状态。

在测量到相邻信道中的乱真功率或泄漏功率的情况下,首先测量输入信号的载波功率。在载波功率的测量中,载波功率由所谓的采样检测器得到,其中频率分析器的测量中心频率与该输入信号的载波频率相匹配,并且通过所设置的扫描速率确定的、在该显示器屏幕频率轴上的指示被采样,以根据在该频率处的每一采样值计算功率。

在此之后,在该频谱分析仪保持为频率扫描模式的状态下,搜索乱真信号以测量乱真功率。或者,根据在频率扫描模式中的输入信号,测量所规定的到相邻信道的泄漏功率。

所测量的到相邻信道的乱真功率或泄漏功率被转换为如上所述所得到的相对于载波功率的相对值。检验到相邻信道的该乱真功率或泄漏功率的相对值是否小于预定值,以判断该测量结果的优或劣。

如上所述,在已有技术中,操作员通过将频谱分析仪的参考电平设置为例如最小值,来观察二次失真功率,并且此后手动变化该参考电平,直至它的二次失真功率变为固定值(不变化状态),并且将二次失真功率为固定的参考电平用作适当的参考电平,即输入电平。因此存在的问题是,为了设置适当的参考电平,需要长的时间和大的工作负荷。

另外,在已有技术中,如上所述,通过采样检测器来测量载波功率。在该采样检测器中,因为该采样值具有相对较宽的分散(dispersion),所以进行多次扫描操作以得到该采样值的平均值,并且该平均值被用作载波功率的测量值。

但是,因为在采样检测器中,如前所述在显示器中所显示的采样数据被使用,即,利用检波器检测对数放大器的输出,并且使用该被检测的输出的采样数据,所以为了避免对数放大器和检波器的误差的影响,载波功率是通过对多次扫描操作结果取平均值而得到的。如上所述,在已有技术中,因为必须进行多次扫描操作,所以在测量载波功率中,存在需要长的时间和大的工作负荷的缺点。

本发明的目的是提供一种使用频率分析器的测量方法,其中该频谱分析仪的参考电平可以自动地被设置。

本发明的另一目的是要提供一种使用频谱分析仪的测量方法,其中输入信号的载波功率可在短的时间内被准确地测量,而不需多次扫描操作。

根据本发明,在该频谱分析仪中用来频率选择的变频装置的输出被分支,被分支的输出被转换为数字数据,进行检测以查看用来将该被分支输出转换为数字数据的AD转换装置是否溢出,如果AD转换装置溢出,则频谱分析仪的第一级电平调整装置被调整以防止出现溢出。这样,参考电平被自动地设置。

另外,在该电平调整装置的调整之后,用于频率选择的变频装置的输出电平以比第一级电平调整装置的调整单位要小的单位而被调整,使得该数字数据的峰值落入AD转换装置的满刻度中的预定范围内,即,使得AD转换装置的输入电平总是在该AD转换装置的适当输入电平范围内。

在载波功率的测量中,由用于频率选择的变频装置所选择的频谱分析仪的测量中心频率被置为输入信号的载波频率,并且停止测量频率的扫描,该输入信号的载波功率由该数字数据而计算。

或者,该数字数据被调制,并且根据该调制数据,对于对输入信号所预定的数字数据的采样来计算载波功率。

在测量中心频率被置为输入信号的载波频率的状态下扫描测量频率,以测量到相邻信道的乱真功率或泄漏功率。

对应于输入信号的标准化模板根据该载波功率而被显示,并且由扫描该测量频率所测量的频谱与该模板相重叠地被显示。

附图的简要说明

图1的框图示出了根据本发明的测量方法的第一实施例的频谱分析仪的具体例子;

图2的流程图示出了自动设置图1所示的频谱分析仪的参考电平的处理过程的一个例子;

图3示出了模板和测量频谱重叠显示的一个例子;

图4的框图示出了应用本发明的测量方法的第二实施例的频谱分析仪的一个具体例子。

下面将结合附图详细说明本发明的测量方法。

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