[实用新型]电路板功能测试装置

说明书

本实用新型涉及一种电路板功能测试装置，尤指一种以微处理机控制的测试电路板与待测电路板形成测试路，以电子模拟信号取代实际量测的模拟信号，以达缩短测试时间、简化测试装置及易于查找错误维修等优点。

在现今的企业组织均希望竞争力的提在竞争力的提高方法中，效率的提高为其主要方法之一，对于现今的系统厂中，其最终产品的产出，在其电路板的功能测试中，时间上占了相当的比例，若有一测试装置能缩短对其产品的电路板的功能测试时间，则刘该产品的系统厂，在其产出效率上有莫大的助益，进而提高其竞争力。

以目前扫描器的制造业而言，对其扫描器的电路板的功能测试方式，以实际的模拟方式，藉由一测试图像经扫描后输入于待测电路板，并将其输入电脑处理显像，再籍由人工目测方式，以查核该待测电路板功能是否正常，请参见图1所示，即为该电路板功能测试装置的方框图，该待测电路板11置入针床装置12后，籍由接头将扫描装置13连接，以实际扫描方式，再藉由电脑14显象以判断该待侧电路板功能正常与否，如此方式则有下述缺点，在测试时间上须花数分钟(约2一分钟)，且所使用的测试设备包含了针床装置12、电脑14及扫描装置13，故不易于携带，且无功能查找错误的提示信号，不易查找错误维修等缺点。

本实用新型的主要目的在于提供一种缩短功能测试时间的电路板功能测试装置。

本实用新型的另一目的在于提供一种携带方便、易于查找错误维修的电路板功能测试装置。

本实用新型的目的是这样实现的：一种电路板功能测试装置，其主要包括有一针床装置及一测试电路板，其测试电路板包含微处理器控制电路(CPU)，CPU接内储存整个测试系统的控制程序并提供微处理器控制电路在运作时暂存资料、参数的存储器电路，CPU接作为微处理器控制电路传送资料及控制信号给功能测试电路通道或由微处理器控制电路读取该功能测试电路资料的通道的I/O接口控制电路，将待测电路板的功能测量的资料处理转换、以让微处理器控制电路进行比较、判断该待测电路板功能正常与否的功能测试电路接CPU及I/O接口控制电路；CPU还接有显示电路以及电源电路。

I/O接口控制电路包含缓冲电路及资料闩锁电路。

功能测试电路包含作为侦测侍测电路板端电压的选择开关的继电器组合电路、模拟数字转换电路、SCSl控制电路、时序侦测电路、CCD信号摸拟电路。

该继电器组合电路启动时只有一继电器被启动。

模拟数字电路转换包含限压电路以及电流放大电路。

综上所述，本实用新型具有下述的优点：

1、对于测试时间：本实用新型需要15秒，而现有技术需要2-3分钟。

2、使用设备：本实用新型使用针床及测试电路，而现有技术需要个人电脑以及针床、扫描设备。

3、占用空间：本实用新型占用小，而现有技术占用较大。

4、维修时间：本实用新型可缩短维修人员的摸索时间，而现有技术需要较长的摸索时间。

5、本实用新型便于携带。

下面结合附图和具体实施方案对本实用新型做进一步的详细说明。

图1为习用电路板功能测试架构方块图。

图2为本实用新型电路板功能测试装置概念方块图。

图3为本实用新型电路板功能测试装置的测试电路板方块图。

图4为本实用新型电路板功能测试装置的I/O接口控制电路的详细电路图。

图5、6、7为本实用新型电路板功能测试装置的功能测试电路的详细电路图。

请参见图2所示，为本实用新型电路板功能测试装置概念方块图，本实用新型测试装置2利用针床装置22上的测试电路板21与待侧电路板23形成测试路方式，以电子模拟信号来取代实际量测的模拟信号，以缩短量测时间与省略测试时所须的设备。

请参见图3所示，为本实用新型电路板功能测试装置的测试电路板方块图，该测试电路板21包含CPU控制电路31、存储器32、I/O接口控制电路33、功能测试电路34、显示器35及电源供应器36，兹将各方块图功能。详述如下：

CPU控制电路31依存储器32中的程序来执行测试的动作及一切的控制与处理。

存储器32内部储存著整个测试系统的控制程序，并提供CPU在运作时暂存资料、参数用。

I/O接口控制电路33作为CPU控制电路31送资料及控制信号给功能测试电路34的通道，或由CPU控制电路31读取该功能测试电路34资料的通道。

功能测试电路34是将该待测电路板23各功能测量的资料作处理转换等，以让CPU控制电路31进行比较、判断该待测电路板23的功能正常与否。