[发明专利]显像熔模铸件中的夹杂物的方法有效
申请号: | 98802582.5 | 申请日: | 1998-12-15 |
公开(公告)号: | CN1248186A | 公开(公告)日: | 2000-03-22 |
发明(设计)人: | 马克·E·斯普林盖特;戴维·霍华德·斯特吉斯;詹姆斯·R·巴雷特;梅达德·亚斯雷比;道格拉斯·G·尼古拉斯 | 申请(专利权)人: | PCC结构公司 |
主分类号: | B22C1/02 | 分类号: | B22C1/02;B22C9/04 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 丁业平,王达佐 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显像 铸件 中的 夹杂 方法 | ||
1.一种检测金属或金属合金工件中的夹杂物的方法,包括:
提供一种铸造金属或金属合金工件,其中所述工件是使用含有其量足以将工件中的夹杂物显像的显像剂的铸造型壳制造的;和
利用N-射线分析确定工件是否含有夹杂物。
2.如权利要求1所述的方法,其中的铸造型壳是熔模铸造型壳。
3.如权利要求2所述的方法,其中的熔模铸造型壳包括至少在面层中大体均匀分布的显像剂。
4.如权利要求3所述的方法,其中的型壳还包括至少一个含有显像剂的加固层。
5.一种制造铸件的方法,包括:
提供含有N-射线显像剂的铸造型壳;以及使用该铸造型壳铸造金属或金属合金。
6.如权利要求5所述的方法,其中的铸造型壳是熔模铸造型壳。
7.如权利要求5所述的方法,其中的铸造型壳是至少在其面层部分包含显像剂的熔模铸造型壳。
8.如权利要求5所述的方法,还包括至少利用N-射线分析确定工件是否含有夹杂物的步骤。
9.如权利要求8所述的方法,其中的确定步骤包括分析N-射线图像。
10.如权利要求8所述的方法,其中的确定步骤包括利用N-射线分析来分析工件中的夹杂物。
11.一种检测金属或金属合金工件中的夹杂物的方法,包括:
铸造一种金属或金属合金工件,其中所述工件是使用面层中含有其量足以将夹杂物显像的、在所述面层中大体上均匀分布的显像剂的铸造型壳铸造的;和
利用N-射线分析来分析工件中的夹杂物。
12.如权利要求11所述的方法,其中的铸造型壳是熔模铸造型壳,并且显像剂至少在面层中大体上均匀分布。
13.如权利要求11所述的方法,其中的分析步骤还包括X-射线分析。
14.如权利要求12所述的方法,其中的型壳还包括至少一个含有显像剂的加固层。
15.如权利要求11所述的方法,其中的显像剂包括选自下列一组中的物质,该组由硼、钕、钐、铕、钆、镝、钬、铒、钇、镥、铱及其物理混合物和化学混合物组成。
16.如权利要求15所述的方法,其中的显像剂是金属盐、金属氧化物、金属间化合物、硼化物或它们的混合物。
17.如权利要求11所述的方法,其中的工件包括钛或钛合金,并且面层还包括耐火材料。
18.如权利要求17所述的方法,其中的耐火材料是氧化钇、二氧化锆、三氧化二铝、氧化钙、二氧化硅、锆石、二氧化钛、钨、这些材料的物理混合物以及化学混合物。
19.如权利要求17所述的方法,其中的耐火材料是氧化钇或二氧化锆。
20.如权利要求19所述的方法,其中的显像剂是氧化钆。
21.如权利要求11所述的方法,其中用于涂挂面层的面层浆料包括大约1~100wt%的显像剂。
22.如权利要求11所述的方法,其中用于涂挂面层的面层浆料包括大约1~65wt%的显像剂。
23.如权利要求11所述的方法,其中用于涂挂面层的面层浆料包括大约2~25wt%的显像剂。
24.如权利要求11所述的方法,其中面层包括由耐火材料和显像剂构成的均匀混合物。
25.如权利要求11所述的方法,其中面层包括均匀混合的显像剂。
26.如权利要求11所述的方法,其中面层包括均匀混合的耐火材料。
27.如权利要求11所述的方法,其中的工件包括钛或钛合金,并且面层包括与氧化钆一起焙烧的氧化钇。
28.如权利要求11所述的方法,其中面层包括耐火材料和多种显像剂。
29.如权利要求28所述的方法,其中的耐火材料是氧化钇,而多种显像剂中的一种是氧化钆。
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