[发明专利]碳膜生长工艺无效
申请号: | 98805277.6 | 申请日: | 1998-05-20 |
公开(公告)号: | CN1260847A | 公开(公告)日: | 2000-07-19 |
发明(设计)人: | 兹维·彦尼夫;理查德·L·芬克;芝丹·L·托尔特 | 申请(专利权)人: | SI戴梦德技术公司 |
主分类号: | C30B23/04 | 分类号: | C30B23/04;C30B25/04;C30B29/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 生长 工艺 | ||
1.场发射器件的制造方法,它包含下列步骤:
提供衬底;
处理所述衬底以便修正所述衬底的形貌;以及
在所述处理过的衬底上生长碳膜。
2.权利要求1所述的方法,其中只有一部分所述衬底经受所述处理步骤,且其中与在所述衬底的未处理过的部分上生长的碳膜相比,在所述处理过的衬底上生长的所述碳膜是更好的场发射体。
3.权利要求2所述的方法,其中与所述未处理过的衬底上的所述碳膜相比,在所述衬底的所述处理过的部分上生长的所述碳膜,在经受特定电场时发射明显更多的电子。
4.权利要求1所述的方法,其中所述衬底用碱进行处理,其中所述处理步骤改变所述衬底的所述表面的化学组分。
5.权利要求1所述的方法,其中所述衬底用酸进行处理。
6.权利要求5所述的方法,其中所述衬底是陶瓷。
7.权利要求5所述的方法,其中所述衬底是金属。
8.权利要求5所述的方法,其中所述衬底是玻璃。
9.权利要求1所述的方法,还包含在所述衬底上执行声处理的步骤。
10.权利要求3所述的方法,其中所述衬底不经受声处理步骤。
11.权利要求1所述的方法,还包含下列步骤:
在所述衬底上淀积金属层,所述金属层具有预定的图形,致使通过所述金属层可以看到部分所述衬底,其中所述淀积步骤在所述生长步骤之前执行。
12.权利要求11所述的方法,其中生长所述碳膜的所述步骤还在所述金属层上淀积所述碳膜,其中所述碳膜是连续膜。
13.权利要求11所述的方法,其中在所述衬底上淀积所述金属层的所述步骤还包含下列步骤:
在所述衬底上淀积所述金属层;
用光刻方法对所述金属层进行图形化;以及
对所述金属层进行腐蚀以产生所述预定的图形。
14.一种用下列步骤制造的场发射器件:
提供衬底;
处理所述衬底以便修正所述衬底的形貌;以及
在所述处理过的衬底上生长碳膜,其中只有一部分所述衬底经受所述处理步骤,且其中与在所述衬底的未处理过的部分上生长的碳膜相比,在所述处理过的衬底上生长的所述碳膜是更好的场发射体,其中与所述未处理过的衬底上的碳膜相比,在所述衬底的所述处理过的部分上生长的所述碳膜,在经受特定电场时发射明显更多的电子。
15.权利要求14所述的器件,其中所述衬底用酸进行处理。
16.权利要求15所述的器件,其中所述衬底是陶瓷。
17.一种淀积碳膜的方法,它包含下列步骤:
在衬底上淀积金属层,所述金属层具有预定的图形,致使通过所述金属层可以看到部分所述衬底;以及
在所述衬底的所述部分上淀积所述碳膜。
18.权利要求17所述的方法,其中淀积所述碳膜的所述步骤也在所述金属层上淀积所述碳膜。
19.权利要求18所述的方法,其中所述碳膜是连续膜。
20.权利要求17所述的方法,其中在所述衬底上淀积所述金属层的所述步骤还包含下列步骤:
在所述衬底上淀积所述金属层;
用光刻方法对所述金属层进行图形化;以及
对所述金属层进行腐蚀以产生所述预定的图形。
21.权利要求20所述的方法,其中所述腐蚀步骤在所述衬底的所述部分处,使所述衬底的表面变粗糙。
22.权利要求21所述的方法,其中所述衬底是类陶瓷材料。
23.权利要求17所述的方法,其中在所述衬底上淀积所述金属层的所述步骤还包含下列步骤:
腐蚀所述衬底,其中所述腐蚀步骤改变所述衬底的所述部分的所述表面的化学组分;以及
通过产生所述预定图形的掩模,在所述衬底上淀积所述金属层。
24.权利要求23所述的方法,其中所述腐蚀步骤使所述衬底的表面变粗糙。
25.权利要求20所述的方法,其中所述腐蚀步骤改变所述衬底的所述部分的所述表面的化学组分。
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