[发明专利]碳膜生长工艺无效

专利信息
申请号: 98805277.6 申请日: 1998-05-20
公开(公告)号: CN1260847A 公开(公告)日: 2000-07-19
发明(设计)人: 兹维·彦尼夫;理查德·L·芬克;芝丹·L·托尔特 申请(专利权)人: SI戴梦德技术公司
主分类号: C30B23/04 分类号: C30B23/04;C30B25/04;C30B29/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 生长 工艺
【权利要求书】:

1.场发射器件的制造方法,它包含下列步骤:

提供衬底;

处理所述衬底以便修正所述衬底的形貌;以及

在所述处理过的衬底上生长碳膜。

2.权利要求1所述的方法,其中只有一部分所述衬底经受所述处理步骤,且其中与在所述衬底的未处理过的部分上生长的碳膜相比,在所述处理过的衬底上生长的所述碳膜是更好的场发射体。

3.权利要求2所述的方法,其中与所述未处理过的衬底上的所述碳膜相比,在所述衬底的所述处理过的部分上生长的所述碳膜,在经受特定电场时发射明显更多的电子。

4.权利要求1所述的方法,其中所述衬底用碱进行处理,其中所述处理步骤改变所述衬底的所述表面的化学组分。

5.权利要求1所述的方法,其中所述衬底用酸进行处理。

6.权利要求5所述的方法,其中所述衬底是陶瓷。

7.权利要求5所述的方法,其中所述衬底是金属。

8.权利要求5所述的方法,其中所述衬底是玻璃。

9.权利要求1所述的方法,还包含在所述衬底上执行声处理的步骤。

10.权利要求3所述的方法,其中所述衬底不经受声处理步骤。

11.权利要求1所述的方法,还包含下列步骤:

在所述衬底上淀积金属层,所述金属层具有预定的图形,致使通过所述金属层可以看到部分所述衬底,其中所述淀积步骤在所述生长步骤之前执行。

12.权利要求11所述的方法,其中生长所述碳膜的所述步骤还在所述金属层上淀积所述碳膜,其中所述碳膜是连续膜。

13.权利要求11所述的方法,其中在所述衬底上淀积所述金属层的所述步骤还包含下列步骤:

在所述衬底上淀积所述金属层;

用光刻方法对所述金属层进行图形化;以及

对所述金属层进行腐蚀以产生所述预定的图形。

14.一种用下列步骤制造的场发射器件:

提供衬底;

处理所述衬底以便修正所述衬底的形貌;以及

在所述处理过的衬底上生长碳膜,其中只有一部分所述衬底经受所述处理步骤,且其中与在所述衬底的未处理过的部分上生长的碳膜相比,在所述处理过的衬底上生长的所述碳膜是更好的场发射体,其中与所述未处理过的衬底上的碳膜相比,在所述衬底的所述处理过的部分上生长的所述碳膜,在经受特定电场时发射明显更多的电子。

15.权利要求14所述的器件,其中所述衬底用酸进行处理。

16.权利要求15所述的器件,其中所述衬底是陶瓷。

17.一种淀积碳膜的方法,它包含下列步骤:

在衬底上淀积金属层,所述金属层具有预定的图形,致使通过所述金属层可以看到部分所述衬底;以及

在所述衬底的所述部分上淀积所述碳膜。

18.权利要求17所述的方法,其中淀积所述碳膜的所述步骤也在所述金属层上淀积所述碳膜。    

19.权利要求18所述的方法,其中所述碳膜是连续膜。

20.权利要求17所述的方法,其中在所述衬底上淀积所述金属层的所述步骤还包含下列步骤:

在所述衬底上淀积所述金属层;    

用光刻方法对所述金属层进行图形化;以及

对所述金属层进行腐蚀以产生所述预定的图形。

21.权利要求20所述的方法,其中所述腐蚀步骤在所述衬底的所述部分处,使所述衬底的表面变粗糙。

22.权利要求21所述的方法,其中所述衬底是类陶瓷材料。

23.权利要求17所述的方法,其中在所述衬底上淀积所述金属层的所述步骤还包含下列步骤:

腐蚀所述衬底,其中所述腐蚀步骤改变所述衬底的所述部分的所述表面的化学组分;以及

通过产生所述预定图形的掩模,在所述衬底上淀积所述金属层。

24.权利要求23所述的方法,其中所述腐蚀步骤使所述衬底的表面变粗糙。

25.权利要求20所述的方法,其中所述腐蚀步骤改变所述衬底的所述部分的所述表面的化学组分。

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