[发明专利]用于阳离子体系的消光膏无效
申请号: | 98806225.9 | 申请日: | 1998-06-01 |
公开(公告)号: | CN1260817A | 公开(公告)日: | 2000-07-19 |
发明(设计)人: | G·莫雷-斯维夫特 | 申请(专利权)人: | 克罗斯菲尔德有限公司 |
主分类号: | C09D7/12 | 分类号: | C09D7/12;C09C1/30;// |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 卢新华,谭明胜 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 阳离子 体系 消光膏 | ||
发明的技术领域
本发明涉及一种用于阳离子体系的消光膏。
发明背景
现已知道使用合成的多孔二氧化硅以在油漆,清漆和喷漆使用中得到无光涂层。在溶剂和水基涂料中使用二氧化硅是人们所熟知的。二氧化硅对光泽的消减效果通常与溶剂的蒸发和在涂层干燥过程中发生的薄膜体积的减小有关。
可制造出在紫外光下交联的100%的固体涂料配方。它们含有低聚物,光反应性引发剂和各种添加剂。
随着辐射固化涂料在各个应用领域的日益流行,控制和减小光泽的能力变得越来越重要。由于在UV可固化涂料中固化是与最小的薄膜收缩和无溶剂蒸发联系在一起的,所以在100%固体UV可固化涂料中就需要大量的多孔二氧化硅(达到15%(重量))或大粒度的二氧化硅以获得无光或半光涂层。当使用的浓度很大时清漆的粘度就会增加或当使用的APS很大时固化薄膜的粗糙度,由此这些方法均受到了限制。
在UV配方中可使用的主要有三类光可固化树脂:i)丙烯酸酯的低聚物,ii)不饱和聚酯和iii)脂环族和双酚A的环氧化物。当将丙烯酸酯的低聚物和不饱和聚酯与化学品混合时,它们可聚合和交联,该化学品在紫外光的照射下可产生自由基。当脂环族和双酚A的环氧化物与锍盐混合时,它们可聚合和交联,锍盐在紫外光下可分解产生能引发反应的酸催化剂。这一固化的过程定义为“阳离子固化”。
使用上述方法可成功地减小含丙烯酸酯的低聚物和不饱和聚酯配方的光泽度。
在按阳离子机理固化的环氧树脂基配方中,大粒度的二氧化硅以及甚至高浓度的二氧化硅都不会引起干膜的光泽度的减小。虽然由于它们的耐磨性,硬度和耐温性可优选用在许多应用领域中,但不能容易地制造出具有无光或半光的涂层。
因此就需要一种能在阳离子可固化体系中使用的消光体系。
现已惊奇地发现,使用10-40%(重量)的稀释剂例如乙烯基醚(诸如CHVE,DVE3)和丙烯酸酯类(HDDA,TPGDA,DPGDA)与脂环族环氧可大大地增强多孔二氧化硅的作用并且能够制造出基于阳离子或混合物(阳离子/自由基固化)的无光和半光涂料而不会对其它所需的薄膜性能造成损害。
检测步骤和说明
i.氮表面积-细孔容积
用由美国Micromeritics提供的ASAP2400装置采用多点法通过布鲁瑙厄-埃梅特-泰勒(BET)标准氮吸附法测定氮的表面积。样品在测量前在270℃的真空环境下除气至少一个小时。在P/Po 0.98的条件下由吸附的氮气的体积来计算表面积。该装置还提供孔的大小分布,从这一分布可得到孔的尺寸(D10),它表示有10%的孔低于该孔的大小。用同样的方式可得到孔的尺寸(D50)和(D90),其分别表示有50%和90%的孔低于该孔的大小。此外,对于给定孔的尺寸范围的细孔容积(cm3/g)可从吸附曲线上得到。
ii.加权平均的粒度
加权平均的粒度是采用100mm光径的透镜借助于MalvernMastersizer测定的。由Malvern Instruments,Worcestershire制造的该仪器是采用利用低能量He/Ne激光器的是费琅荷费衍射原理。在测量前,样品用超声在水中分散7分钟从而形成水相悬浮液。MalvernMastersizer测量二氧化硅的加权粒度分布。加权平均的粒度(d50),百分之十(d10)和百分之九十(d90)可很容易的从该仪器所产成的数据中得到。
iii.消光效率
为了检测消光效率根据下面的步骤来制备下面的配方。
配方:
UVR6110* 81.5-X%
乙烯基醚 X
UVR6990* 3.0%
Fluorad FC430# 0.5%
二氧化硅 15%
*ex.Union碳化物
#ex.3M
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