[发明专利]渐变眼镜的象质仪无效
申请号: | 98807559.8 | 申请日: | 1998-07-22 |
公开(公告)号: | CN1268221A | 公开(公告)日: | 2000-09-27 |
发明(设计)人: | R·奇普曼;J·J·德鲁斯;J·B·哈达维 | 申请(专利权)人: | 庄臣及庄臣视力保护公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 陈霁,陈景峻 |
地址: | 美国佛*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 渐变 眼镜 象质仪 | ||
1.一种用于测试眼镜片的象质的自动光学测试装置,该装置包括
照明系统,用于向测试镜片提供测试光束;
定位系统,用于旋转测试镜片以便照明镜片上的不同区域,以便测试镜片上该区域上的象质;
检测系统,用于记录和测量镜片的象质;以及
变焦透镜,一旦光束通过镜片时用于以恒定有效焦距把光束聚焦到探测器系统上。
2.根据权利要求1所述的光学测试装置,其中所述定位系统围绕镜片后面的固定转动点转动镜片。
3.根据权利要求1所述的光学测试装置,其中所述变焦透镜可以沿着系统光轴相对于镜片移动。
4.根据权利要求3所述的光学测试装置,其中所述变焦透镜包括第一透镜和第二透镜,而且所述第二透镜可以沿着光轴相对于第一透镜移动。
5.根据权利要求1所述的光学测试装置,其中所述探测器系统位于离镜片固定的距离上。
6.根据权利要求1所述的光学测试装置,还包括调整臂,其中变焦透镜和探测器系统连接到调整臂上,而且其中的调整臂围绕镜片转动使得当镜片被定位系统转动时测试光束与探测器系统再次对准。
7.根据权利要求1所述的光学测试装置,还包括用于控制光学测试装置工作的微处理器。
8.根据权利要求1所述的光学测试装置,其中所述探测器系统包括用于自动测量由镜片上的位置产生的点扩散函数的装置。
9.根据权利要求1所述的光学测试装置,其中所述探测器系统还包括用于自动计算由镜片上的位置产生的调制传递函数的装置。
10.一种用于测试眼镜片的象质的自动光学测试装置,该装置包括
光源,用于向镜片提供测试光束;
定位系统,用于旋转镜片以便照明镜片上的不同区域,以便测试镜片上该区域上的象质;
检测系统,用于记录和测量镜片的象质;
变焦透镜,用于把光束聚焦在探测器系统上;以及
调整臂,其中变焦透镜和探测器系统连接到调整臂上,而且其中的调整臂围绕镜片转动使得当镜片被定位系统转动时测试光束与探测器系统再次对准。
11.根据权利要求10所述的光学测试装置,还包括用于控制光学测试装置工作的微处理器。
12.根据权利要求11所述的光学测试装置,其中所述定位系统围绕镜片后面的固定转动点转动镜片。
13.根据权利要求12所述的光学测试装置,其中一旦光束通过镜片时,变焦透镜以恒定有效焦距聚焦光束。
14.根据权利要求13所述的光学测试装置,其中所述探测器系统包括用于自动测量由镜片上位置产生的光焦度、象散、棱镜度以及调制传递函数的装置。
15.一种用于测试眼镜片的象质的自动光学测试装置,该装置包括
照明系统,用于向测试镜片提供测试光束;
定位系统,用于旋转镜片以便照明镜片上的不同区域,以便测试镜片上该区域上的象质;
检测系统,用于记录和测量镜片的象质;
变焦透镜,用于把光束聚焦在探测器系统上;
调整臂;以及
微处理器,用于控制光学测试装置的工作;
其中变焦透镜和探测器系统连接到调整臂上,而且其中光学测试装置能够测量镜片的光焦度、象散、棱镜度以及调制传递函数。
16.根据权利要求15所述的光学测试装置,其中所述定位系统围绕镜片后面的固定转动点转动镜片。
17.根据权利要求16所述的光学测试装置,其中一旦光束通过镜片时,变焦透镜以恒定有效焦距聚焦测试光束。
18.一种用于测试眼镜片的象质的方法,该方法包括下列步骤:
(a)用来自光源的测试光束照射镜片上的位置;
(b)在光束通过镜片上的位置时,以恒定有效焦距把测试光束聚焦在探测器系统上;以及
(c)测量镜片位置上的象质。
19.根据权利要求18所述的方法,进一步包括旋转镜片以便照明镜片上的不同区域,以及
重复上述步骤(a)至(c)。
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