[发明专利]由基本上线型均相烯烃聚合物组合物制成的膜有效
申请号: | 98808181.4 | 申请日: | 1998-07-10 |
公开(公告)号: | CN1267315A | 公开(公告)日: | 2000-09-20 |
发明(设计)人: | S·V·卡兰德;L·G·黑兹利特;P·杰恩;K·D·科克;赖世耀;陶立尼 | 申请(专利权)人: | 陶氏化学公司 |
主分类号: | C08L23/04 | 分类号: | C08L23/04;C08J5/18 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 陈季壮 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基本上 线型 均相 烯烃 聚合物 组合 制成 | ||
1.具有至少一层包含乙烯与至少一种共聚单体的均相共聚物的膜,所述共聚单体选自C3-C20α-烯烃、二烯、和环烯,其中所述共聚物的特征在于:
a.密度为0.910-0.930克/厘米3,
b.熔体指数(I2)为0.2-10克/10分钟,
c.I10/I2为9-20,且
d.分子量分布Mw/Mn为2.1-5。
2.根据权利要求1的膜,其中所述共聚物是一种基本上线型聚合物,其特征在于:
a.通过凝胶渗透色谱测得的分子量分布Mw/Mn由下式定义:
(Mw/Mn)<(I10/I2)-4.63,
b.气体流变挤出流变性能,从而该共聚物的表面熔体破裂开始时的临界剪切速率比具有相同共聚单体的线型乙烯共聚物的表面熔体破裂开始时的临界剪切速率大至少50%,其中所述线型乙烯聚合物组合物的I2、Mw/Mn和密度在所述共聚物的10%以内,且其中所述共聚物和线型乙烯聚合物的临界剪切速率是在相同熔体温度下使用气体挤出流变计测得的。
3.根据权利要求1的膜,其中所述共聚物具有0.01-3长支化链/1000个碳原子。
4.根据权利要求1的膜,其中所述共聚物的特征在于,在45℃-98℃之间具有1-2个通过TREF测定的,其CTBI分别低于18℃的结晶峰。
5.根据权利要求1的膜,其中所述共聚物的特征在于其凝胶渗透色谱具有两个峰。
6.根据权利要求5的膜,其中所述共聚物是在两个聚合反应器中制备的,其中每个反应器都包含单中心受限几何或金属茂催化剂。
7.根据权利要求6的膜,其中在通过凝胶渗透色谱分级时,所述共聚物特征在于:
a.25-90%第一聚合物级分的熔体指数(I2)为0.05-1.0克/10分钟;和
b.10-75%第二聚合物级分的熔体指数(I2)至少为30克/10分钟。
8.根据权利要求1的膜,其中所述共聚物的特征在于,其总熔体指数(I2)为1.0-7.0克/10分钟。
9.根据权利要求6的膜,其中所述共聚物的特征在于满足以下不等式:
a.I2<10[-3.525*Log(Mw)+17.84],和
b.I10/I2>[1.5*Mw/Mn]+2.59。
10.根据权利要求6的膜,其中在通过凝胶渗透色谱分级时,所述共聚物特征在于:
a.30-85%第一聚合物级分的熔体指数(I2)为0.05-1.0克/10分钟;和
b.15-70%第二聚合物级分的熔体指数(I2)至少为30克/10分钟。
11.根据任何权利要求5-10的膜,其中所述共聚物的特征在于,在45℃-98℃之间具有两个通过TREF测定的,其CTBI分别低于18℃的结晶峰。
12.根据权利要求2的膜,其中所述共聚物的特征还在于:
a.I2为0.05至低于2.5克/10分钟,
b.I10/I2至少为12.5,且
c.Mw/Mn为2.1-3.0。
13.根据权利要求12的膜,其中所述共聚物的特征还在于,具有通过TREF测得的在45-98℃之间且CTBI低于18℃的单个结晶峰。
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