[发明专利]测试半导体系统中命名器件参量数据的储存与搜索系统有效
| 申请号： | 98809200.X | 申请日： | 1998-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN1113247C | 公开（公告）日： | 2003-07-02 |
| 发明（设计）人： | 艾伦L·布利茨 | 申请（专利权）人： | 泰拉丁公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319;G06F17/30;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 方挺,余朦 |
| 地址： | 美国马萨诸*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 搜索关键词： | 测试 半导体 系统 命名 器件 参量 数据 储存 搜索 | ||
【说明书】：
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