[发明专利]检测磁存储器的热不平度的方法及其电路无效
| 申请号： | 99101726.9 | 申请日： | 1999-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN1124591C | 公开（公告）日： | 2003-10-15 |
| 发明（设计）人： | 高桥泰彦 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/012 | 分类号： | G11B5/012;G11B20/18 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 邹光新,张志醒 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 磁存储器 平度 方法 及其 电路 | ||
【说明书】：
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