[发明专利]电子装置

说明书

本发明涉及设有微处理器(录像机等装置)的电子装置。

过去，大多数电子装置是根据写入微处理器和只读存储器中的程序执行各种控制的装置。

图5示出现有技术的电子装置的例子。

只读存储单元51(下面简称为ROM51)存储用于操作中央处理单元53(下面简称为CPU53)的程序。随机存取存储单元52(下面简称为RAM52)存储有ROM校正数据(下面简称为RCD)，它包括：

(1)用于校正存储在ROM51中程序的程序；

(2)校正点，它是用于启动执行校正程序的点的位置(locative)信息；和

(3)校正程序的版本号。

当达到校正的点(下面简称为校正点)时，CPU53执行存储在RAM52中的校正程序，其中校正点是用于启动执行在RAM52中的校正程序同时还执行存储在ROM51中的程序的点的位置信息。内部非易失存储器54(下面简称为存储器54)存储RCD，并根据CPU53的指令把RCD转移到RAM。

如上所述构成的现有技术的电子装置以下面所述的方法进行操作。

首先，不把RCD存储在存储器54中。如果在上述情况下把RCD存储在存储器54中，那么ROM应该具有在对CPU53复位的同时预先进行把数据传递到RAM52的程序。由于在这个例子中没有把RCD存储在存储器54中，所以不存在任何要传递到RAM52的RCD。因此CPU53只根据存储在ROM51中的程序进行操作。

如果在完成电子装置之后，在存储在ROM51中的程序中找到任何问题的情况下，用存储有用于校正问题的RCD的另一个非易失存储器代替存储器54。于是，在对CPU53复位的同时，CPU53把存储在经替换的存储器54中的RCD传递到RAM52。因此，CPU53执行在ROM51中的程序。当它达到存储在RAM52中的校正点时，CPU53还执行在RAM52中的校正程序。通过这种方法，可以校正存储在ROM51中的问题。

一般而言，ROM51具有较大的存储量，而且与存储器54相比需要较长的读出时间(lead-time)。因此，比起ROM51，替换存储器51在成本和时间上更有利。此外，可以重新使用去除的存储器54，因为它是可重写的(从而减小了成本)。

然而，在现有技术的上述电子装置中，需要拆卸装置以替换元件，从而校正存储在ROM51中的程序。由于上述原因，这样做消耗大量劳力。

本发明旨于避免上述问题，而且其目的在于提供可以容易地校正存储在ROM单元中的程序，而不必拆卸装置的电子装置。

为了获得这个目的，本发明的电子装置包括：

(1)ROM单元，它存储有用于操作CPU单元的程序；

(2)RAM单元，用于存储RCD，它包括用于校正在ROM单元中的程序的程序、校正点和校正程序的版本号；

(3)CPU单元，用于当它达到存储在RAM单元中的校正点时，执行在RAM单元中的校正程序，同时执行ROM单元的程序；

(4)内部非易失存储器，用于存储RCD，并根据CPU单元的命令把RCD传递到RAM单元；和

(5)数据传递单元，它能够通过接头连接存储RCD的外部非易失存储器与内部非易失存储器，而无需拆卸电子装置。

如果在完成电子装置之后，在存储在ROM单元中的程序中找到任何问题，那么准备用于校正程序的RCD并把RCD存储在与电子装置分开的外部非易失存储器中。然后，把外部非易失存储器与设置在电子装置中的接头相连。与接头相连的数据传递单元或者通过自动检测与在它外面存储RCD的外部非易失存储器相连或者根据CPU单元的命令，把存储在外部非易失存储器中的RCD传递到内部非易失存储器。通过这种方法，如上构成的本发明的电子装置能够容易地更新在内部非易失存储器中的RCD，而无需拆卸装置。然后，通过拔开和插上交流电源插头，或者通过关闭和打开电子装置的电源，复位CPU单元。CPU单元通过这种复位操作，把存储在内部非易失存储器中的RCD传递到RAM单元。当它达到存储在RAM单元中的校正点时，CPU单元执行在ROM单元中的程序，以及在RAM单元中的校正程序。通过这种方法，可以校正存储在ROM单元中的程序的问题。

因此，本发明的电子装置能够容易地校正存储在ROM单元中的程序，而无需如现有技术所要求的那样拆卸装置。

图1是示出本发明的第一示例实施例的电子装置的结构方框图；

图2是示出本发明的第二示例实施例的电子装置的结构方框图；

图3是示出本发明的第三示例实施例的电子装置的结构方框图；