[发明专利]多功能安全规格自动测试装置无效
申请号: | 99103110.5 | 申请日: | 1999-03-24 |
公开(公告)号: | CN1268670A | 公开(公告)日: | 2000-10-04 |
发明(设计)人: | 陈品毅 | 申请(专利权)人: | 华仪电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京三友专利代理有限责任公司 | 代理人: | 韩飘扬 |
地址: | 台湾省台北县汐*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多功能 安全 规格 自动 测试 装置 | ||
本发明涉及一种测试装置,更确切地说是涉及一种用于电器安全规格测试的多功能自动测试装置。
为了使电器能实施安全用电,而规定了安全电器的标准,该标准要求电器需通过多项安全规格测试,包括接地阻抗测试、交直流耐压测试、绝缘电阻测试、漏电流测试及带电运转测试等,通过这些测试才能算是符合标准的安全电器。
但,一般市售的安全规格测试器,大都仅有单一项目的测试功能,或一测试器仅有两个项目的测试功能,使用者若要为同一电器同时做多种项目的安全规格测试,则需应用多个测试器。由于使用者需购买多个测试器,造成成本提升,且多个测试器还将占用许多空间(体积)。
参见图1,若要使一测试器具有全自动的多项程序测试功能,则需将多个测试器81组合在一起,包括接地阻抗测试器811、交流耐压测试器812、直流耐压测试器813、绝缘阻抗测试器814、漏电流测试器815及交流电源供应器816,各测试器811-816通过电脑接口821-826与电脑(PLC)83连接,同时,需向电脑83写入控制软件,而由电脑83集中控制。各测试器811-816的输出端与一可编程开关箱84的输入端相接,该可编程式开关箱84之输出端与待测物2相接,电脑83还通过电脑接口827连接可编程开关箱84
上述测试技术有如下缺点:
1.成本太高且占用体积太大;
2.配线太复杂不易使用;
3.系统配线太多;
4.需另外再写入电脑控制软件;
由于存在的技术缺点太多,目前,上述测试技术已很少被使用。
本发明的目的是提供一种多功能安全规格自动测试装置,可克服上述测试器所存在的缺点,可同时完成对待测物多种安全规格的测试,且连线少、结构简单、使用方便。
本发明的目的是这样实现的:一种多功能安全规格自动测试装置,包括有微电脑控制器,其特征在于:还包括有正弦波产生电路、功率放大器、功能选择器、变压电路、测试电路组、选择开关电路和输出自动切换开关矩阵电路;所述的微电脑控制器分别与正弦波产生电路、功能选择器、选择开关电路和输出自动切换开关矩阵电路连接,所述的正弦波产生电路、功率放大器、功能选择器、变压电路、测试电路组、选择开关电路和输出自动切换开关矩阵电路顺序连接,所述的输出自动切换开关矩阵电路与待测物上的各测试点相连接;所述的功能选择器由一个以上的开关组成,所述的变压电路由一个以上产生不同电压、电流值的变压器组成,所述的测试电路组有一个以上的测试电路,所述的选择开关电路由一个以上的选择开关组成,功能选择器中选择开关的个数与变压电路中变压器的个数、测试电路组中测试电路的个数及选择开关电路中选择开关的个数一致并顺序对应连接。
还包括有可与其它外围装置连接的接口,与所述的微电脑控制器相连接。
还包括有用于输入测试项目的键盘,与所述的微电脑控制器相连接。
还包括有用于显示测试结果的显示器,与所述的微电脑控制器相连接。
所述变压电路中一个以上的变压器包括有低电压高电流变压器、高电压低电流变压器及中电压高电流变压器。
所述测试电路组的一个以上的测试电路包括有接地阻抗测试电路、高压测试电路及交流电源供应电路。
还包括有漏电流测试器及与之连接的一选择开关,微电脑控制器分别连接漏电流测试器及该选择开关,该选择开关连接所述的输出自动切换开关矩阵电路。
本发明的测试装置,由微电脑控制器控制并协调各测试程序工作。该微电脑控制器通过导线与一正弦波产生电路相接,该正弦波产生电路通过导线与一变压电路相接,该变压电路通过导线与一输出自动切换开关矩阵电路相接,该输出自动切换开关矩阵电路配合待测物进行不同测试项目的测试。输出自动切换开关矩阵电路受微电脑控制器控制,而连接到待测物上的不同测试点,在测试某一电器时,由使用者设定多项测试项目,令微电脑控制器控制正弦波产生电路产生一设定的正弦波,该正弦波经变压电路而输出适当的测试电源,该测试电源再经输出自动切换开关矩阵电路,而输入至待测物上的测试点,同时进行多项安全规格测试。
微电脑控制器用于控制装置中各部件的动作,在对待测物进行测试时,通过控制功能选择器及选择开关中所设开关的导通或切断状态,完成各种测试项目。
下面结合实施例及附图进一步说明本发明的技术。
图1是使用传统测试技术的多功能测试器的结构原理框图。
图2是利用本发明的测试装置进行测试的原理框图。
图3是本发明测试装置最佳实施例的结构原理框图。
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