[发明专利]IC试验装置及IC实验装置的误动作防止方法无效
| 申请号： | 99104064.3 | 申请日： | 1999-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN1135395C | 公开（公告）日： | 2004-01-21 |
| 发明（设计）人： | 大西武士 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王景刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | ic 试验装置 实验 装置 误动作 防止 方法 | ||
【权利要求书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社爱德万测试，未经株式会社爱德万测试许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/99104064.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：超高频反射计装置及其方法和装有它的微波炉
- 下一篇：改进的电路监视设备
