[发明专利]矩阵型显示装置及其制造方法和热压键合头有效

专利信息
申请号: 99104535.1 申请日: 1999-03-31
公开(公告)号: CN1256476A 公开(公告)日: 2000-06-14
发明(设计)人: 岸田克彦;宫本启文;丸山嘉昭;上本裕司 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G09F9/35 分类号: G09F9/35;G09F9/313;G09G3/20
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 矩阵 显示装置 及其 制造 方法 热压 键合头
【权利要求书】:

1.一种矩阵型显示装置,包括:

第一基片;

与第一基片相对设置的第二基片,具有沿排列方向基本成一行地安装多个驱动IC的区域,以便IC的长边与排列方向对准;

用于与第三基片连接的连接端子,所说连接端子设置在用于安装驱动IC的区域中,位于沿多个驱动IC的排列方向的各驱动IC的短边旁的各位置。

2.根据权利要求1的矩阵型显示装置,其特征在于:连接连接端子与驱动IC的引线从驱动IC的短边延伸。

3.根据权利要求1或2的矩阵型显示装置,其特征在于:驱动IC是驱动数据总线的IC。

4.根据权利要求1的矩阵型显示装置,其特征在于:在多个驱动IC的排列方向上,驱动IC和第三基片间的距离为1.0mm或更大。

5.一种制造矩阵显示装置的方法,所说装置包括:第一基片;与第一基片相对设置的第二基片,具有沿排列方向基本成一行地安装多个驱动IC的区域,以便IC的长边与排列方向对准;用于与第三基片连接的连接端子,所说连接端子设置在用于安装驱动IC的区域中,位于沿多个驱动IC的排列方向的各驱动IC的短边旁的各位置,所说方法包括以下步骤:

第一步,将各向异性的导电膜线性地粘附到用于安装驱动IC的区域上,以便多个驱动IC与第三基片可以热压键合到用于安装驱动IC的区域上;

第二步,利用热压键合头,将第三基片热压键合到用于安装驱动IC的区域上;

第三步,利用所说热接触键合头,将多个驱动IC热压键合到用于安装多个驱动IC的区域上。

6.一种制造矩阵显示装置的方法,所说装置包括:第一基片;与第一基片相对设置的第二基片,具有沿对准方向基本成一行地安装多个驱动IC的区域,以便IC的长边与排列方向对准;用于与第三基片连接的连接端子,所说连接端子设置在用于安装驱动IC的区域中,位于沿多个驱动IC的排列方向的各驱动IC的短边旁的各位置,所说方法包括以下步骤:

第一步,将各向异性的导电膜线性地粘附到用于安装驱动IC的区域上,以便多个驱动IC与第三基片可以热压键合到用于安装驱动IC的区域上;

第二步,利用第一热压键合头,将多个驱动IC热压键合到用于安装驱动IC的区域上;

第三步,利用具有不与多个驱动IC接触的侧面的第二热压键合头,将第三基片热压键合到用于安装驱动IC的区域上。

7.一种制造矩阵显示装置的方法,所说装置包括:第一基片;与第一基片相对设置的第二基片,具有沿对准方向基本成一行地安装多个驱动IC的区域,以便IC的长边与排列方向对准;用于与第三基片连接的连接端子,所说连接端子设置在用于安装驱动IC的区域中,位于沿多个驱动IC的排列方向的各驱动IC的短边旁的各位置,所说方法包括以下步骤:

第一步,将各向异性的导电膜线性地粘附到用于安装驱动IC的区域上,以便多个驱动IC与第三基片可以热压键合到用于安装驱动IC的区域上;

第二步,利用能够同时热压键合多个驱动IC和第三基片的热压键合头,将多个驱动IC和第三基片同时热压键合到第二基片上。

8.一种用于制造矩阵型显示装置的热压键合头,所说显示装置包括:第一基片;与第一基片相对设置的第二基片,具有沿对准方向基本成一行地安装多个驱动IC的区域,以便IC的长边与排列方向对准;用于与第三基片连接的连接端子,所说连接端子设置在用于安装驱动IC的区域中,位于沿多个驱动IC的排列方向的各驱动IC的短边旁的各位置,

该键合头包括用于键合第三基片的头部分和用于多个驱动IC的凹口,以便在第三基片的热接触键合过程中,安装到用于安装驱动IC的区域上的多个驱动IC不与该头接触。

9.一种用于制造矩阵型显示装置的热压键合头,所说显示装置包括:第一基片;与第一基片相对设置的第二基片,具有沿对准方向基本成一行地安装多个驱动IC的区域,以便IC的长边与排列方向对准;用于与第三基片连接的连接端子,所说连接端子设置在用于安装驱动IC的区域中,位于沿多个驱动IC的排列方向的各驱动IC的短边旁的各位置,

该键合头包括用于键合驱动IC的头部分和用于键合第三基片的头部分,

其中用于键合驱动IC的头部分和驱动IC的接触部分与用于键合第三基片的头部分和第三基片的接触部分间的高度差,基本上等于驱动IC和第三基片间的厚度差。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/99104535.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top